JEOL-Nikon CLEM 솔루션 센터
시설관리부
JEOL Ltd.(회장 구리하라 곤에몬)는 Nikon과 JEOL Ltd.의 공동 프로젝트인 "JEOL-Nikon CLEM 솔루션 센터"가 1년 2017월 XNUMX일에 설립되었음을 발표하게 되어 기쁘게 생각합니다. & D 최첨단 CLEM* 솔루션에 대한 경험을 제공하고 기술 정보를 수집 및 제공하는 JEOL의 건물.
* CLEM: 상관광전자현미경
JEOL-Nikon CLEM 솔루션 센터 개요
| 주소 | JEOL Ltd., 도쿄도 아키시마구 무사시노 3-1-2 |
|---|---|
| 주요 설치 | 광학 현미경(입체 현미경, 산업용 현미경, 공초점 레이저 현미경 시스템)
전자현미경(투과전자현미경, 주사전자현미경, 전자탐침미세분석기) 및 각종 시료준비장비 |
| 전화 | + 81-3-6262-3567 |
| 직접 시연 (데모) | 시연을 준비하려면 센터에 연락하십시오. 시연은 예약제로만 진행됩니다. |
CLEM은 빠른 광시야 관찰과 분자의 위치 및 국소화 정보 획득이 가능한 광학현미경과 관찰을 통해 미세한 구조 데이터 획득이 가능한 전자현미경의 장점을 결합한 효과적인 관찰 및 분석 방법입니다. 높은 공간 해상도에서 샘플. 최근 첨단 생명과학 및 소재 개발 연구에서 소프트웨어를 통해 광학현미경과 전자현미경을 연동하여 CLEM을 보다 효과적으로 활용하고자 하는 필요성이 높아지고 있습니다.
2013년 JEOL은 Nikon과 공동으로 "miXcroscopy™ Linked Optical & Scanning Electron Microscopy System"을 개발했습니다. 또한 JEOL은 2014년 XNUMX월 Nikon과 자본 및 업무제휴 협약을 체결하고 Nikon의 광학현미경과 JEOL의 전자현미경을 결합한 CLEM 솔루션 구축 및 제품 개발 및 판매 역량 강화를 위해 양사 간 협력을 추진해 왔다.
새로운 솔루션 센터에서는 "miXcroscopy™"를 소개하고 CLEM 사용을 촉진하기 위한 CLEM 솔루션을 제공할 것입니다. 또한 고객과의 대화를 통해 CLEM 기술을 향상시킬 수 있는 정보를 수집 및 전달하고 생명과학 및 소재개발 연구에 새로운 혜택을 창출하는 데 기여하겠습니다.
예: 유리 세라믹의 이물질에 대한 CLEM 관찰
광학현미경으로 이물질을 검출하고(좌), 이를 전자현미경으로 고해상도 이미지로 포착하고(중앙), 전자현미경으로 특성 X선 분석을 통해 성분을 분석하는 모습(우). 결과적으로 이물질은 철로 확인됩니다. CLEM은 빠르고 정밀한 이물질 검출, 식별 및 분석, 보다 효율적인 제품 품질 검사 및 분석을 가능하게 하여 공장 및 실험실의 생산성 향상에 기여합니다.