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회사 소개

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제품 안내서

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투과전자현미경(TEM)

CRYO ARM™ 300 II(JEM-3300) 전계 방출 극저온 전자 현미경

CRYO ARM™ 300 II(JEM-3300) 전계 방출 저온 전자 현미경

JEM-Z300FSC(CRYO ARM™ 300) 전계 방출 극저온 전자 현미경

JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300) 전계방출 저온전자현미경

JEM-Z200FSC(CRYO ARM™ 200) 전계 방출 극저온 전자 현미경

JEM-Z200FSC (CRYO ARM™ 200) 전계방출 저온전자현미경

JEM-ARM300F2 GRAND ARM™ 원자 분해능 전자 현미경

JEM-ARM300F2 GRAND ARM™ 원자 분해능 전자현미경

JEM-ARM200F NEOARM 원자 분해능 분석 전자 현미경

JEM-ARM200F NEOARM 원자 분해능 분석 전자현미경

단색 JEM-ARM200F 원자 분해능 분석 전자 현미경

단색 JEM-ARM200F 원자 분해능 분석 전자현미경

JEM-F200 다목적 ​​전자현미경

JEM-F200 다목적 ​​전자현미경

JEM-2200FS 전계 방출 전자 현미경

JEM-2200FS 전계 방출 전자 현미경

EM-2100Plus 전자현미경

JEM-2100Plus 전자현미경

JEM-1400플래시 전자현미경

JEM-1400플래시 전자현미경

옵션(TEM)

SightSKY 카메라 EM-04500SKY 고감도, 저노이즈 광섬유 결합 CMOS 카메라

SightSKY EM-04500SKY 고감도, 저잡음 파이버 커플링 CMOS 카메라

OBF 시스템

OBF 시스템

JEM-1400/JEM-1400Plus 플래시 카메라로 업그레이드

JEM-1400/JEM-1400Plus 플래시 카메라로 업그레이드

SAAF Octa 세그먼트 환형 모든 필드 감지기 Octa

SAAF Octa 세그먼트 환형 모든 필드 감지기 Octa

4DCanvas™ 픽셀화 STEM 검출기

4DCanvas™ 픽셀화 STEM 검출기

4DCanvas™ 애플리케이션 데이터 북

4DCanvas™ 애플리케이션 데이터 북

Integrated Dynamic Electron Solutions, Inc. / 제품(TEM)

제품 브로셔(Integrated Dynamic Electron Solutions, Inc.)

제품 브로셔(IDES)

주사 전자 현미경 (SEM)

FE-SEM

JSM-IT800 쇼트키 전계 방출 주사 전자 현미경

JSM-IT800 쇼트키 전계방출 주사전자현미경

JSM-IT800 슈퍼 하이브리드 렌즈(SHL) 쇼트키 전계 방출 주사 전자 현미경

JSM-IT800 슈퍼 하이브리드 렌즈(SHL) 쇼트키 전계 방출 주사형 전자현미경

JSM-IT800(i)/(is) 쇼트키 전계 방출 주사 전자 현미경

JSM-IT800(i)/(is) 쇼트키 전계방출 주사전자현미경

옵션(FE-SEM)

SM-92100EUVC 엑시머 UV 클리너

SM-92100EUVC 엑시머 UV 클리너

Gather-X JED 시리즈 Dry SD™ 창 없는 EDS

Gather-X JED 시리즈 Dry SD™ 창 없는 EDS

SS-94000SXES/SS-94040SXSER 슈퍼 분광계

SS-94000SXES/SS-94040SXSER 슈퍼 분광계

Soft X-ray Emission Spectra Version 8.0 핸드북(2023년 XNUMX월)

연X선 방출 스펙트럼 버전 8.0 핸드북(2023년 XNUMX월)

연X선 방출 분광계 SXES-LR/ER, -LREP/EREP

연X선 방출 분광계 SXES-LR/ER, -LREP/EREP

기존 SEM

JSM-IT710HR 주사 전자 현미경

JSM-IT710HR 주사 전자 현미경

JSM-IT700HR InTouchScope™ 주사 전자 현미경

JSM-IT700HR InTouchScope™ 주사 전자 현미경

JSM-IT510 InTouchScope™ 주사 전자 현미경

JSM-IT510 InTouchScope™ 주사 전자 현미경

JSM-IT210 주사 전자 현미경

JSM-IT210 주사 전자 현미경

JSM-IT200 InTouchScope™ 주사 전자 현미경

JSM-IT200 InTouchScope™ 주사 전자 현미경

JCM-7000 NeoScope™ 다목적 벤치탑 SEM

JCM-7000 NeoScope™ 다목적 벤치탑 SEM

JCM-7000 NeoScope™ 다목적 벤치탑 SEM

JCM-7000 NeoScope™ 다목적 벤치탑 SEM

옵션(기존 SEM)

JSM-IT200 / DrySD™60용 EDS

JSM-IT200 / DrySD™60용 EDS

이물질 분석 및 재료 측정을 위한 JCM-7000 NeoScope™ 탁상용 도구

이물질 분석 및 물질 결정을 위한 JCM-7000 NeoScope™ 벤치탑 도구

품질 보증을 위한 JCM-7000 NeoScope™ 탁상용 도구

품질 보증을 위한 JCM-7000 NeoScope™ 벤치탑 도구

이온빔 응용장비(FIB, CP)

멀티빔 시스템(FIB)

JIB-PS500i FIB-SEM 시스템

JIB-PS500i FIB-SEM 시스템

JIB-4700F 멀티빔 시스템

JIB-4700F 멀티빔 시스템

JIB-4000PLUS 집속 이온빔 밀링 및 이미징 시스템

JIB-4000PLUS 집속 이온빔 밀링 및 이미징 시스템

옵션(FIB)

IB-07080ATLPS, IB-77080ATLPS 자동 TEM 시편 준비 시스템 STEMPLING

IB-07080ATLPS, IB-77080ATLPS 자동 TEM 시편 준비 시스템 STEMPLING

표본 준비 장비(CP)

IB-10500HMS CROSS SECTION POLISHER™ 고처리량 밀링 시스템

IB-10500HMS CROSS SECTION POLISHER™ 고처리량 밀링 시스템

IB-19520CCP 크로스 섹션 폴리셔™

IB-19520CCP 크로스 섹션 폴리셔™

IB-19530CP 횡단면 폴리셔™

IB-19530CP 횡단면 폴리셔™

옵션(CP)

CROSS SECTION POLISHER™ 정밀 포지셔닝 현미경

CROSS SECTION POLISHER™ 정밀 포지셔닝 현미경

CROSS SECTION POLISHER™ 정밀 측위 현미경 TYPE2

CROSS SECTION POLISHER™ 정밀 위치 결정 현미경 TYPE2

미세 영역 및 표면 분석용 기기(EPMA, Auger, XPS, ESCA)

  • EPMA는 Electron Probe Microanalyzer의 약자입니다.

전자 프로브 미세 분석기(EPMA)

JXA-iHP200F 쇼트키 전계 방출 전자 프로브 마이크로 분석기 JXA-iSP100 텅스텐/랩 6 전자 프로브 마이크로 분석기

JXA-iHP200F 쇼트키 전계 방출 전자탐침 마이크로분석기 JXA-iSP100 텅스텐/LaB6전자탐침 미세분석기

옵션(EPMA)

SS-94000SXES/SS-94040SXSER 슈퍼 분광계

SS-94000SXES/SS-94040SXSER 슈퍼 분광계

Soft X-ray Emission Spectra Version 8.0 핸드북(2023년 XNUMX월)

연X선 방출 스펙트럼 버전 8.0 핸드북(2023년 XNUMX월)

연X선 방출 분광계 SXES-LR/ER, -LREP/EREP

연X선 방출 분광계 SXES-LR/ER, -LREP/EREP

오거 마이크로프로브(오거)

JAMP-9510F 전계 방출 오거 마이크로 프로브

JAMP-9510F 전계 방출 오거 마이크로 프로브

옵션(오거)

스펙트럼 이미지

스펙트럼 이미지

광전자 분광계(ESCA)

JPS-9030 광전자 분광계(XPS)

JPS-9030 광전자 분광계(XPS)

핵자기공명분광기(NMR)

JNM-ECZL 시리즈 FT NMR

JNM-ECZL 시리즈 FT NMR

JNM-ECZR 시리즈 FT NMR

JNM-ECZR 시리즈 FT NMR

JNM-ECZS 시리즈 FT NMR

JNM-ECZS 시리즈 FT NMR

고체 NMR

고체 NMR

극저온 회수 시스템

극저온 회수 시스템

ROYALPROBE™ HFX

ROYALPROBE™ HFX

JEOL NMR의 데이터 무결성 준수

JEOL NMR의 데이터 무결성 준수

전자 스핀 공명 분광기(ESR)

JES-X3 시리즈 ESR

JES-X3 시리즈 ESR

X선 형광 분광기(XRF)

JSX-1000S X선 형광 분광기(XRF)

JSX-1000S X선 형광 분광기(XRF)

옵션(XRF)

SX-01020LVC / SX-01030LVC 액체 시료 분석용 저진공 캡슐

SX-01020LVC / SX-01030LVC 액체 시료 분석용 저진공 캡슐

질량분석기(MS)

GC-MS

JMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zeta 가스 크로마토그래프 사중극자 질량 분석기

JMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zeta 가스 크로마토그래프 사중극자 질량분석기

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha 고성능 가스 크로마토그래프 - ToF 질량 분석기

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha 고성능 가스 크로마토그래프 - 비행시간형 질량분석기

JMS-TQ4000GC UltraQuad™TQ

JMS-TQ4000GC UltraQuad™TQ

다이옥신용 JMS-TQ4000GC

다이옥신용 JMS-TQ4000GC

JMS-800D 고분해능 질량분석기

JMS-800D 고분해능 질량분석기

JMS-700 MStation 질량 분석기

JMS-700 MStation 질량 분석기

옵션(GC-MS)

msFineAnalysis AI 미지 화합물 구조 분석 소프트웨어

msFineAnalytic AI 미지의 화합물 구조 분석 소프트웨어

msFineAnalysis 시리즈(GC-MS 통합 정성 분석 소프트웨어)

msFineAnalytic 시리즈(GC-MS 통합 정성 분석 소프트웨어)

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha 석유 및 석유화학 솔루션

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha 석유 및 석유화학 솔루션

JEOL GC-HRTOFMS와 결합된 포괄적인 2D GC : GCxGC 애플리케이션

JEOL GC-HRTOFMS와 결합된 포괄적인 2D GC: GCxGC 애플리케이션

LC-MS(DART™-MS), MALDI-TOFMS

JMS-T100LP AccuTOF™ LC-Express 대기압 이온화 고해상도 비행 시간 질량 분석기

JMS-T100LP AccuTOF™ LC-Express 대기압 이온화 고분해능 비행시간 질량분석기

JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 2.0 초고질량분해능 MALDI-TOFMS 시스템

JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 2.0 초고질량분해능 MALDI-TOFMS 시스템

옵션(LC-MS(DART™-MS), MALDI-TOFMS)

msRepeatFinder 폴리머 분석 소프트웨어

msRepeatFinder 폴리머 분석 소프트웨어

MALDI-TOFMS 이미징 시스템 JEOL×SCiLS

MALDI-TOFMS 이미징 시스템 JEOL×SCiLS

MS 가이드북

GC-MS Soft Ionization Mass_Spectra 수집

GC-MS Soft Ionization Mass_Spectra 수집

JEOL 질량분석기의 이온화 방법 - 가이드북 -

JEOL 질량분석기의 이온화 방법 - 가이드북 -

반도체 장비

JBX-8100FS 시리즈 전자빔 리소그래피 시스템

JBX-8100FS 시리즈 전자빔 리소그래피 시스템

JBX-9500FS 전자빔 리소그래피 시스템

JBX-9500FS 전자빔 리소그래피 시스템

JBX 시리즈 전자빔 리소그래피 시스템

JBX 시리즈 전자빔 리소그래피 시스템

적층 제조 기계(AM)

JAM-5200EBM 전자빔 금속 AM 기계

JAM-5200EBM 전자빔 금속 AM 기계

JEOL 적층 가공 신기술 정보

JEOL 적층 가공 신기술 정보

박막 형성 및 재료 가공용 산업용 장비

산업 장비 일반 카탈로그

산업 장비 일반 카탈로그

박막 형성 장비(E-Beam 및 Plasma Source 등)

JEBG BS-60/JST BS-ICE 시리즈 전자빔 소스 및 전원 공급 장치

JEBG BS-60/JST BS-ICE 시리즈 전자빔 소스 및 전원 공급 장치

BS-60610BDS 폭격 퇴적물 소스

BS-60610BDS 폭격 퇴적물 소스

BS-60250DEM 전자빔 소스

BS-60250DEM 전자빔 소스

BS-800 시리즈/BS-920 시리즈 플라즈마 보조 플라즈마 소스/전원 공급 장치

BS-800 시리즈/BS-920 시리즈 플라즈마 보조 플라즈마 소스/전원 공급 장치

BS-40 시리즈 로터리 센서

BS-40 시리즈 로터리 센서

JEBG・BS / JST・ST 시리즈(JEBG 시리즈 고출력 전자빔 소스)

JEBG・BS / JST・ST 시리즈(JEBG 시리즈 고출력 전자선원)

RF 유도 열 플라즈마 시스템

RF 유도 열 플라즈마 시스템

TP-99140FDR 미세 분말 피더

TP-99140FDR 미세 분말 피더

소재 가공 장비(금속 용해 및 나노분말 합성 등)

RF 유도 열 플라즈마 시스템

RF 유도 열 플라즈마 시스템

TP-400020NPS 열플라즈마 나노분말 합성 시스템

TP-400020NPS 열플라즈마 나노분말 합성 시스템

TP-99140FDR 미세 분말 피더

TP-99140FDR 미세 분말 피더

JEBG・BS / JST・ST 시리즈(JEBG 시리즈 고출력 전자빔 소스)

JEBG・BS / JST・ST 시리즈(JEBG 시리즈 고출력 전자선원)

YOKOGUSHI 애플리케이션 노트

배터리노트

배터리노트

LIB노트

LIB노트

솔리드 스테이트 배터리 참고 사항

솔리드 스테이트 배터리 참고 사항

청정도 검사 자동차 리튬이온 배터리 제조

청정도 검사 자동차용 리튬이온 배터리 제조

분석기기의 환경대책

고급 분석 기기를 위한 환경 공학 기술

첨단분석기기를 위한 환경공학기술

실내 온도 조절 / 기류 대책

실내 온도 조절 / 기류 대책

자기장 대책

자기장 대책

진동 대책

진동 대책

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