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CRYO ARM™ 300 II(JEM-3300) 전계 방출 저온 전자 현미경

JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300) 전계방출 저온전자현미경

JEM-Z200FSC (CRYO ARM™ 200) 전계방출 저온전자현미경

JEM-ARM300F2 GRAND ARM™ 원자 분해능 전자현미경

JEM-ARM200F NEOARM 원자 분해능 분석 전자현미경

단색 JEM-ARM200F 원자 분해능 분석 전자현미경

JEM-F200 다목적 ​​전자현미경

JEM-2200FS 전계 방출 전자 현미경

JEM-2100Plus 전자현미경

JEM-1400플래시 전자현미경

SightSKY EM-04500SKY 고감도, 저잡음 파이버 커플링 CMOS 카메라

OBF 시스템

JEM-1400/JEM-1400Plus 플래시 카메라로 업그레이드

SAAF Octa 세그먼트 환형 모든 필드 감지기 Octa

4DCanvas™ 픽셀화 STEM 검출기

4DCanvas™ 애플리케이션 데이터 북

제품 브로셔(IDES)

JSM-IT800 쇼트키 전계방출 주사전자현미경

JSM-IT800 슈퍼 하이브리드 렌즈(SHL) 쇼트키 전계 방출 주사형 전자현미경

JSM-IT800(i)/(is) 쇼트키 전계방출 주사전자현미경

SM-92100EUVC 엑시머 UV 클리너

Gather-X JED 시리즈 Dry SD™ 창 없는 EDS

SS-94000SXES/SS-94040SXSER 슈퍼 분광계

연X선 방출 스펙트럼 버전 8.0 핸드북(2023년 XNUMX월)

연X선 방출 분광계 SXES-LR/ER, -LREP/EREP

JSM-IT710HR 주사 전자 현미경

JSM-IT700HR InTouchScope™ 주사 전자 현미경

JSM-IT510 InTouchScope™ 주사 전자 현미경

JSM-IT210 주사 전자 현미경

JSM-IT200 InTouchScope™ 주사 전자 현미경

JCM-7000 NeoScope™ 다목적 벤치탑 SEM

JCM-7000 NeoScope™ 다목적 벤치탑 SEM

이물질 분석 및 물질 결정을 위한 JCM-7000 NeoScope™ 벤치탑 도구

품질 보증을 위한 JCM-7000 NeoScope™ 벤치탑 도구

JSM-IT200 / DrySD™60용 EDS

JIB-PS500i FIB-SEM 시스템

JIB-4700F 멀티빔 시스템

JIB-4000PLUS 집속 이온빔 밀링 및 이미징 시스템

IB-Z200021CFS, IB-Z200022CPC CRYO-FIB-SEM

IB-07080ATLPS, IB-77080ATLPS 자동 TEM 시편 준비 시스템 STEMPLING

IB-10500HMS CROSS SECTION POLISHER™ 고처리량 밀링 시스템

IB-19520CCP 크로스 섹션 폴리셔™

IB-19530CP 횡단면 폴리셔™

CROSS SECTION POLISHER™ 정밀 포지셔닝 현미경

CROSS SECTION POLISHER™ 정밀 위치 결정 현미경 TYPE2

JXA-iHP200F 쇼트키 전계 방출 전자탐침 마이크로분석기 JXA-iSP100 텅스텐/LaB6전자탐침 미세분석기

SS-94000SXES/SS-94040SXSER 슈퍼 분광계

연X선 방출 스펙트럼 버전 8.0 핸드북(2023년 XNUMX월)

연X선 방출 분광계 SXES-LR/ER, -LREP/EREP

JAMP-9510F 전계 방출 오거 마이크로 프로브

스펙트럼 이미지

JPS-9030 광전자 분광계(XPS)

JNM-ECZL 시리즈 FT NMR

JNM-ECZR 시리즈 FT NMR

JNM-ECZS 시리즈 FT NMR

고체 NMR

극저온 회수 시스템

ROYALPROBE™ HFX

JEOL NMR의 데이터 무결성 준수

JES-X3 시리즈 ESR

JSX-1000S X선 형광 분광기(XRF)

SX-01020LVC / SX-01030LVC 액체 시료 분석용 저진공 캡슐

JMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zeta 가스 크로마토그래프 사중극자 질량분석기

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha 고성능 가스 크로마토그래프 - 비행시간형 질량분석기

JMS-TQ4000GC UltraQuad™TQ

다이옥신용 JMS-TQ4000GC

JMS-800D 고분해능 질량분석기

JMS-700 MStation 질량 분석기

msFineAnalytic AI 미지의 화합물 구조 분석 소프트웨어

msFineAnalytic 시리즈(GC-MS 통합 정성 분석 소프트웨어)

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha 석유 및 석유화학 솔루션

JEOL GC-HRTOFMS와 결합된 포괄적인 2D GC: GCxGC 애플리케이션

JMS-T100LP AccuTOF™ LC-Express 대기압 이온화 고분해능 비행시간 질량분석기

JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 2.0 초고질량분해능 MALDI-TOFMS 시스템

msRepeatFinder 폴리머 분석 소프트웨어

MALDI-TOFMS 이미징 시스템 JEOL×SCiLS

GC-MS Soft Ionization Mass_Spectra 수집

JEOL 질량분석기의 이온화 방법 - 가이드북 -

JBX-8100FS 시리즈 전자빔 리소그래피 시스템

JBX-9500FS 전자빔 리소그래피 시스템

JBX 시리즈 전자빔 리소그래피 시스템

JAM-5200EBM 전자빔 금속 AM 기계

JEOL 적층 가공 신기술 정보

산업 장비 일반 카탈로그

JEBG BS-60/JST BS-ICE 시리즈 전자빔 소스 및 전원 공급 장치

BS-60610BDS 폭격 퇴적물 소스

BS-60250DEM 전자빔 소스

BS-800 시리즈/BS-920 시리즈 플라즈마 보조 플라즈마 소스/전원 공급 장치

BS-40 시리즈 로터리 센서

JEBG・BS / JST・ST 시리즈(JEBG 시리즈 고출력 전자선원)

RF 유도 열 플라즈마 시스템

TP-99140FDR 미세 분말 피더

RF 유도 열 플라즈마 시스템

TP-400020NPS 열플라즈마 나노분말 합성 시스템

TP-99140FDR 미세 분말 피더

JEBG・BS / JST・ST 시리즈(JEBG 시리즈 고출력 전자선원)

배터리노트

LIB노트

솔리드 스테이트 배터리 참고 사항

청정도 검사 자동차용 리튬이온 배터리 제조

첨단분석기기를 위한 환경공학기술

실내 온도 조절 / 기류 대책

자기장 대책

진동 대책