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절뉴스 Vol.59 No.1, 2024

제품 안내서
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CRYO ARM™ 300 II(JEM-3300) 전계 방출 저온 전자 현미경

JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300) 전계방출 저온전자현미경

JEM-Z200CA (CRYO ARM™ 200) 전계방출 저온전자현미경

JEM-ARM300F2 GRAND ARM™ 원자 분해능 전자현미경

JEM-ARM200F NEOARM 원자 분해능 분석 전자현미경

단색 JEM-ARM200F 원자 분해능 분석 전자현미경

JEM-F200 다목적 ​​전자현미경

JEM-2200FS 전계 방출 전자 현미경

JEM-2100Plus 전자현미경

JEM-1400플래시 전자현미경

JEM-120i 전자현미경

SightSKY EM-04500SKY 고감도, 저잡음 파이버 커플링 CMOS 카메라

OBF 시스템

JEM-1400/JEM-1400Plus 플래시 카메라로 업그레이드

SAAF Octa 세그먼트 환형 모든 필드 감지기 Octa

4DCanvas™ 픽셀화 STEM 검출기

4DCanvas™ 애플리케이션 데이터 북

FEMTUS™ 통합 분석 플랫폼 -EDS Edition-

제품 브로셔(IDES)

SEM 시리즈

JSM-IT810 쇼트키 전계 방출 주사 전자 현미경

JSM-IT800 쇼트키 전계방출 주사전자현미경

JSM-IT800 슈퍼 하이브리드 렌즈(SHL) 쇼트키 전계 방출 주사형 전자현미경

JSM-IT800(i)/(is) 쇼트키 전계방출 주사전자현미경

SM-92100EUVC 엑시머 UV 클리너

Gather-X JED 시리즈 Dry SD™ 창 없는 EDS

SS-94000SXES/SS-94040SXSER 슈퍼 분광계

연X선 방출 스펙트럼 버전 8.0 핸드북(2023년 XNUMX월)

연X선 방출 분광계 SXES-LR/ER, -LREP/EREP

조직 표본의 3차원 재구성 어레이 단층 촬영

JSM-IT710HR 주사 전자 현미경

JSM-IT700HR InTouchScope™ 주사 전자 현미경

JSM-IT510 InTouchScope™ 주사 전자 현미경

JSM-IT210 주사 전자 현미경

JSM-IT200 InTouchScope™ 주사 전자 현미경

JCM-7000 NeoScope™ 다목적 벤치탑 SEM

JCM-7000 NeoScope™ 다목적 벤치탑 SEM

이물질 분석 및 물질 결정을 위한 JCM-7000 NeoScope™ 벤치탑 도구

품질 보증을 위한 JCM-7000 NeoScope™ 벤치탑 도구

JSM-IT200 / DrySD™60용 EDS

JIB-PS500i FIB-SEM 시스템

JIB-4700F 멀티빔 시스템

JIB-4000PLUS 집속 이온빔 밀링 및 이미징 시스템

CRYO-FIB-SEM 극저온 가공기

IB-07080ATLPS, IB-77080ATLPS 자동 TEM 시편 준비 시스템 STEMPLING

IB-19540CP/IB-19550CCP 횡단면 연마기™

IB-10500HMS CROSS SECTION POLISHER™ 고처리량 밀링 시스템

IB-19520CCP 크로스 섹션 폴리셔™

IB-19530CP 횡단면 폴리셔™

CROSS SECTION POLISHER™ 정밀 포지셔닝 현미경

CROSS SECTION POLISHER™ 정밀 위치 결정 현미경 TYPE2

JXA-iHP200F 쇼트키 전계 방출 전자탐침 마이크로분석기 JXA-iSP100 텅스텐/LaB6전자탐침 미세분석기

SS-94000SXES/SS-94040SXSER 슈퍼 분광계

연X선 방출 스펙트럼 버전 8.0 핸드북(2023년 XNUMX월)

연X선 방출 분광계 SXES-LR/ER, -LREP/EREP

JAMP-9510F 전계 방출 오거 마이크로 프로브

스펙트럼 이미지

JPS-9030 광전자 분광계(XPS)

JNM-ECZL 시리즈 FT NMR

고체 NMR

NMR을 이용한 qNMR 정량분석

극저온 회수 시스템

ROYALPROBE™ HFX

JEOL NMR의 데이터 무결성 준수

ROYALPROBE™ 오토마스

슈퍼쿨 마블

JES-X3 시리즈 전자 스핀 공명 분광기

전자 스핀 공명 분광기 부착 브로셔

JSX-1000S X선 형광 분광기(XRF)

저진공 액체 시료 캡슐

JMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zeta 가스 크로마토그래프 사중극자 질량분석기

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha 고성능 가스 크로마토그래프 - 비행시간형 질량분석기

JMS-TQ4000GC UltraQuad™TQ

다이옥신용 JMS-TQ4000GC

JMS-800D 고분해능 질량분석기

JMS-700 MStation 질량 분석기

msFineAnalytic AI ver.2 미지의 화합물 구조 분석 소프트웨어

msFineAnalytic 시리즈(GC-MS 통합 정성 분석 소프트웨어)

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha 석유 및 석유화학 솔루션

JEOL GC-HRTOFMS와 결합된 포괄적인 2D GC: GCxGC 애플리케이션

JMS-T100LP AccuTOF™ LC-Express 대기압 이온화 고분해능 비행시간 질량분석기

JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 3.0 초고질량분해능 MALDI-TOFMS 시스템

msRepeatFinder 폴리머 분석 소프트웨어

MALDI-TOFMS 이미징 시스템 JEOL×SCiLS

GC-MS Soft Ionization Mass_Spectra 수집

JEOL 질량분석기의 이온화 방법 - 가이드북 -

JBX 시리즈 전자빔 리소그래피 시스템

JBX-A9 시리즈 전자빔 리소그래피 시스템

JBX-8100FS 시리즈 전자빔 리소그래피 시스템

JBX-9500FS 전자빔 리소그래피 시스템

JAM-5200EBM 전자빔 금속 AM 기계

JEOL 적층 가공 신기술 정보

산업 장비 일반 카탈로그

JEBG BS-60/JST BS-ICE 시리즈 전자빔 소스 및 전원 공급 장치

BS-60610BDS 폭격 퇴적물 소스

BS-60250DEM 전자빔 소스

BS-800 시리즈/BS-920 시리즈 플라즈마 보조 플라즈마 소스/전원 공급 장치

BS-40 시리즈 로터리 센서

JEBG・BS / JST・ST 시리즈(JEBG 시리즈 고출력 전자선원)

RF 유도 열 플라즈마 시스템

TP-99140FDR 미세 분말 피더

RF 유도 열 플라즈마 시스템

TP-400020NPS 열플라즈마 나노분말 합성 시스템

TP-99140FDR 미세 분말 피더

JEBG・BS / JST・ST 시리즈(JEBG 시리즈 고출력 전자선원)

LIB노트

솔리드 스테이트 배터리 참고 사항

자동차 리튬이온 배터리 제조 청정도 검사

배터리노트

폴리머노트

음식 노트

식품 분석 솔루션

바이오노트

크라이오노트

생물 사진 SEM 생물 사진 앨범

CLEM 노트 상대광학 및 전자현미경

우루시 노트

첨단분석기기를 위한 환경공학기술

실내 온도 조절 / 기류 대책

자기장 대책

진동 대책