TEM 샘플 준비에서 더 이상 추측은 필요 없습니다
- JIB-PS500i FIB-SEM 시스템으로 정밀성과 효율성을 달성하세요 -
출시일: 2025/09/12
JIB-PS500i는 TEM 시료 전처리에 혁신을 일으키도록 설계된 고성능 FIB-SEM 시스템입니다. 고정밀 밀링 기능과 고해상도 SEM 이미징을 결합하여 시료 제작부터 TEM 관찰까지 원활하고 처리량이 높은 워크플로를 구현합니다.
이번 세미나는 웹상에서 진행됩니다. PC뿐만 아니라 스마트폰이나 태블릿에서도 웹에 접속할 수 있으면 참여할 수 있습니다. 여러분의 참여를 기다립니다.
이 웨비나에 참석하면 다음을 배우게 됩니다.
TEM-LINKAGE：더블 틸트 카트리지를 사용한 FIB와 TEM 사이의 원활한 샘플 전송
CHECK-AND-GO：가공 위치 및 종료 지점 판단 가능
STEMPLING: 반자동화를 통해 고품질 TEM 샘플 준비가 더욱 쉬워졌습니다.
누가 참석해야합니까?
반도체 분야에서 일하는 사람들
재료 과학에 참여하는 사람들
생명공학에 관심 있는 개인
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증여자 |
카와노 이치로 FIB 현장 애플리케이션 엔지니어 
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날짜/기간 |
21년 2025월 8일(화) 오전 00시 ~ 오후 8시 45분(일본 표준시, 도쿄)
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수수료 |
무료 (신청은 선착순으로 접수됩니다. 가능한 한 빨리 신청해 주시기 바랍니다.) |
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프리젠 테이션 자료 |
발표 후 설문조사를 완료한 후 해당 자료를 다운로드할 수 있습니다. |
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녹음 |
웨비나 녹화본은 다음 위치에 게시됩니다. “지난 JEOL 웨비나의 영화” 나중에 해당 페이지로. |
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Q & A 세션 |
프레젠테이션 후에는 Q&A 세션이 없습니다. |
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연락처 |
이메일：sales1[at]jeol.co.jp
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등록
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