Neo Action을 통한 SEM 워크플로 간소화 - JSM-IT810 기반 자동 SEM 관찰 및 EDS 분석 -

출시일: 2025/10/21

JSM-IT810은 SEM 워크플로 자동화에 대한 증가하는 수요를 충족하도록 설계된 고해상도 FE-SEM입니다. 새로운 기능인 Neo Action은 스테이지 이동, 조건 조정, 이미지 획득을 포함한 완전 자동화된 다중 필드 관찰 및 EDS 분석을 가능하게 합니다. 이 웨비나에서는 높은 처리량과 일관된 데이터가 필수적인 반도체 샘플 분석에서 Neo Action의 기능과 그 활용법을 소개합니다.

이번 세미나는 웹상에서 진행됩니다. PC뿐만 아니라 스마트폰이나 태블릿에서도 웹에 접속할 수 있으면 참여할 수 있습니다. 여러분의 참여를 기다립니다.

이 웨비나에 참석하면 다음을 배우게 됩니다.

• SEM 자동화가 워크플로우 효율성을 향상시키는 방법

• 자동 SEM 관찰 및 EDS 분석을 위한 Neo Action의 기능

• 반도체 샘플 분석 응용 분야

누가 참석해야합니까?

• SEM을 사용하는 R&D 엔지니어 및 과학자

• 품질 보증 및 검사 전문가

• 반도체 및 전자 산업 전문가

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증여자	다카야마 하야토 SI 사업 운영 EP 신청 부서 EP 사업부 (주)제올
날짜/기간	9년 2025월 8일(화) 00:8~45:XNUMX JST(도쿄) 2025년 12월 9일(화) 17:00~17:45 JST(도쿄) 본 세미나는 같은 날 두 차례 진행됩니다. 편하신 시간에 참석해 주시기 바랍니다.
수수료	무료 (신청은 선착순으로 접수됩니다. 가능한 한 빨리 신청해 주시기 바랍니다.)
프리젠 테이션 자료	발표 후 설문조사를 완료한 후 해당 자료를 다운로드할 수 있습니다.
녹음	웨비나 녹화본은 다음 위치에 게시됩니다. 웹 세미나 아카이브 나중에 해당 페이지로. 당사를 통해 귀하에게 알려드리겠습니다. 전자 뉴스 레터 그리고 녹음본이 게시되면 소셜 미디어에 공유됩니다.
Q & A 세션	프레젠테이션 후에는 Q&A 세션이 없습니다.
연락처	이메일：sales1[at]jeol.co.jp 수요 창출 사업부 (주)제올 [at]에는 @를 사용하세요.

등록

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영화

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