새롭게 개발된 AES 스펙트럼 이미지를 이용한 반도체 재료 분석 응용

출시일: 2025/10/27

이 보고서는 오제 전자 분광법(AES)을 이용한 반도체 분석 사례 연구를 소개합니다. AES는 표면 민감도가 높고 강력한 분석 기술로, 나노미터 단위의 원소 조성과 오염도를 정밀하게 분석할 수 있습니다. 최근 스펙트럼 이미징 기술의 발전으로 AES의 성능이 더욱 향상되어 밴드갭 및 내부 전위차와 같은 전자 특성을 더욱 상세하고 편리하게 분석할 수 있게 되었습니다. 이러한 발전으로 AES는 반도체 연구 및 제조 분야에서 점점 더 중요한 도구로 자리 잡았으며, 불량 분석, 박막 평가 및 공정 최적화 개선에 기여하고 있습니다.

본 세미나는 온라인 온디맨드 형식으로 제공되며, 지정된 기간 동안 시청하실 수 있습니다. 지정된 기간 동안 언제 어디서든 편리하게 콘텐츠를 시청하세요.

이 웨비나에 참석하면 다음을 배우게 됩니다.

• AES의 최신 측정 방법

• AES의 최신 응용 프로그램 데이터

• 사용하기 쉬운 최신 소프트웨어

누가 참석해야합니까?

• AES 사용자

• 전기 상태 분석에 관심이 있는 고객

• 반도체 고장 분석에 참여하는 고객

관련 제품 / 응용 분야

JAMP-9510F 전계 방출 오거 마이크로 프로브

반도체(산업별 분석)

증여자	코노미 이키타 SA 연구 개발부 SA 사업부 SI 사업 운영 (주)제올
주문형 시청 기간	2026년 3월 10일(화) ~ 3월 17일(화) 날짜는 일본 표준시(JST)를 기준으로 합니다. 콘텐츠 접속 시 현지 시간대를 확인해 주시기 바랍니다.
수수료	무료
프리젠 테이션 자료	발표 후 설문조사를 완료한 후 해당 자료를 다운로드할 수 있습니다.
녹음	웨비나 녹화본은 다음 위치에 게시됩니다. 웹 세미나 아카이브 나중에 해당 페이지로. 당사를 통해 귀하에게 알려드리겠습니다. 전자 뉴스 레터 그리고 소셜 미디어도 이용 가능해지면 사용할 수 있게 됩니다.
Q & A 세션	프레젠테이션 후에는 Q&A 세션이 없습니다.
연락처	이메일：sales1[at]jeol.co.jp 수요 창출 사업부 (주)제올 [at]에는 @를 사용하세요.

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