광역 분석에 적합한 JPS-9030을 소개합니다

출시일: 2026/01/08

XPS는 시료 표면에 존재하는 원소와 화학 결합 상태를 정성적 및 정량적으로 분석하는 기술입니다. JEOL의 XPS 장비인 JPS-9030은 밀리미터 단위의 넓은 영역을 분석할 수 있으며, 시료에 대한 평균적인 정보를 얻는 데 적합합니다. 본 발표에서는 JPS-9030의 특징과 몇 가지 응용 사례를 소개합니다.

이번 세미나는 웹상에서 진행됩니다. PC뿐만 아니라 스마트폰이나 태블릿에서도 웹에 접속할 수 있으면 참여할 수 있습니다. 여러분의 참여를 기다립니다.

이 웨비나에 참석하면 다음을 배우게 됩니다.

• JPS-9030을 이용한 평균 분석의 유용성

• JPS-9030을 이용한 XPS 분석 예시

• JPS-9030의 특징

누가 참석해야합니까?

• XPS 사용자

• 시료의 최상면을 분석하고자 하는 고객

• XPS를 이용한 광역 분석에 관심 있는 고객

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JPS-9030 광전자 분광계

증여자	무라야 나오키 SA 연구개발부 SA 사업부 SI 사업 운영 (주)제올
날짜/기간	2026년 2월 10일(화) 16:00~17:00 일본 표준시(도쿄도) 날짜는 일본 표준시(JST)를 기준으로 합니다. 콘텐츠 접속 시 현지 시간대를 확인해 주시기 바랍니다.
수수료	무료
프리젠 테이션 자료	발표 후 설문조사를 완료한 후 해당 자료를 다운로드할 수 있습니다.
녹음	웨비나 녹화본은 다음 위치에 게시됩니다. 웹 세미나 아카이브 나중에 해당 페이지로. 당사를 통해 귀하에게 알려드리겠습니다. 전자 뉴스 레터 그리고 소셜 미디어도 이용 가능해지면 사용할 수 있게 됩니다.
Q & A 세션	프레젠테이션 후에는 Q&A 세션이 없습니다.
연락처	이메일：sales1[at]jeol.co.jp 수요 창출 사업부 (주)제올 [at]에는 @를 사용하세요.

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