EBSD 진입 장벽 낮추기: W-SEM을 이용한 신뢰할 수 있는 측정

출시일: 2026/03/05

본 웨비나에서는 W-SEM을 활용한 실용적인 EBSD 워크플로우를 소개하고, JSM-IT210 및 소형 e-Flash XS 검출기를 사용하여 신뢰할 수 있는 EBSD 맵을 얻는 방법을 시연합니다. Cross Section Polisher™(CP)를 이용한 효과적인 시료 준비 방법을 중점적으로 다루고, 금속, 세라믹 및 전자 재료 전반에 걸친 주요 EBSD 사례를 제시합니다.

본 세미나는 온라인 온디맨드 형식으로 제공되며, 지정된 기간 동안 시청하실 수 있습니다. 지정된 기간 동안 언제 어디서든 편리하게 콘텐츠를 시청하세요.

이 웨비나에 참석하면 다음을 배우게 됩니다.

• W-SEM을 이용한 결정 방향 분석.

• EBSD 측정의 실제 사례.

• EBSD 분석을 위한 시료 준비 방법.

누가 참석해야합니까?

• EBSD를 처음 사용하는 사용자들을 위한 안내입니다.

• 마이크론 규모의 EBSD 측정을 수행하는 사용자.

• 합리적인 가격의 SEM-EBSD 솔루션을 고려 중인 모든 분들을 위한 제품입니다.

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JSM-IT210 주사 전자 현미경

증여자	이시노 마유 EP 신청 부서 EP 사업부 SI 사업 운영 (주)제올 와타나베 카즈키 EP 신청 부서 EP 사업부 SI 사업 운영 (주)제올
주문형 시청 기간	2026년 5월 20일(수) ~ 5월 22일(금) 날짜는 일본 표준시(JST)를 기준으로 합니다. 콘텐츠 접속 시 현지 시간대를 확인해 주시기 바랍니다.
수수료	무료
프리젠 테이션 자료	발표 후 설문조사를 완료하시면 해당 자료를 다운로드하실 수 있습니다.
녹음	웨비나 녹화본은 다음 위치에 게시됩니다. 웹 세미나 아카이브 나중에 해당 페이지로. 당사를 통해 귀하에게 알려드리겠습니다. 전자 뉴스 레터 그리고 소셜 미디어도 이용 가능해지면 사용할 수 있게 됩니다.
Q & A 세션	프레젠테이션 후에는 Q&A 세션이 없습니다.
연락처	이메일：sales1[at]jeol.co.jp 수요 창출 사업부 전올 주식회사 [at]에는 @를 사용하세요.

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