JEOL을 활용한 스마트 SEM-EDS 분석: 자동화된 상 분석, 입자 분석 및 SEM 워크플로우
출시일: 2026/06/05
본 웨비나에서는 범용 SEM 시스템을 활용한 일상적인 재료 분석 생산성 향상을 위해 설계된 JEOL의 스마트 SEM-EDS 분석 솔루션을 소개합니다. 자동화된 상 분석 기능을 통해 단 한 번의 클릭으로 원소 맵을 화합물 기반 분포로 변환할 수 있으며, 입자 분석 기능을 통해 넓은 영역에 걸쳐 크기, 모양 및 조성에 대한 통계적 평가를 수행할 수 있습니다. 또한, 일상적인 SEM 관찰 및 분석 워크플로우를 자동화하여 장비 관리를 간소화하고 작업자의 업무 부담을 줄일 수 있습니다.
본 세미나는 온라인 온디맨드 형식으로 제공되며, 지정된 기간 동안 시청하실 수 있습니다. 지정된 기간 동안 언제 어디서든 편리하게 콘텐츠를 시청하세요.
이 웨비나에 참석하면 다음을 배우게 됩니다.
자동화된 위상 분석을 통해 EDS 맵에서 화합물 기반 정보를 도출하는 방법
입자 분석을 통해 일반적인 SEM 장비로 넓은 영역에 대한 통계적 평가를 수행하는 방법
자동화된 SEM 워크플로우가 일상적인 분석을 간소화하고 작업자 작업량을 줄이는 방법
누가 참석해야합니까?
일상적인 재료 분석을 수행하는 SEM 사용자 중 더 빠른 SEM-EDS 워크플로우를 원하는 사용자
엔지니어들은 품질 관리 및 고장 분석 작업에 범용 SEM을 사용합니다.
SEM 관리자들은 분석을 표준화하고 운영자 의존도를 줄이는 것을 목표로 합니다.
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증여자 |
나카지마 카오리
SI 판매 촉진 부서 
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주문형 시청 기간 |
2026년 7월 15일(수) ~ 7월 17일(금)
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수수료 |
무료 |
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프리젠 테이션 자료 |
발표 후 설문조사를 완료한 후 해당 자료를 다운로드할 수 있습니다. |
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녹음 |
웨비나 녹화본은 다음 위치에 게시됩니다. "웹 세미나 아카이브" 나중에 해당 페이지로. |
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Q & A 세션 |
프레젠테이션 후에는 Q&A 세션이 없습니다. |
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연락처 |
이메일：sales1[at]jeol.co.jp
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