단종 된 제품
투과전자현미경(TEM)
주사 전자 현미경 (SEM)
표본 준비 장비(CP)
멀티빔 시스템(FIB)
전자 프로브 미세 분석기(EPMA)
오거 마이크로프로브(오거)
광전자 분광계(ESCA)
X선 형광 분광기(벤치탑)
스캐닝 프로브 현미경
기타
핵자기공명분광기(NMR)
전자 스핀 공명 분광기(ESR)
GC-MS
LC-MS(DART-MS)
말디-토프스
결함 검토 주사 전자 현미경(WS)
전자빔 리소그래피 시스템
박막 형성 장비(E-Beam 및 Plasma Source 등)
임상 화학 분석기(CA)
아미노산 분석기
개발 /
설치 케이스
유저들의 목소리를 인터뷰, 설치 사례, 개발비밀 등의 형태로 소개합니다. 문제를 해결할 수 있는 정보 힌트를 찾을 수 있습니다. 확인하시기 바랍니다.
Contacts
JEOL은 고객이 안심하고 제품을 사용할 수 있도록 다양한 지원 서비스를 제공합니다.
Please feel free to contact us.