IB-19530CP는 혁신적으로 설계된 다목적 스테이지를 특징으로 하여 점점 다양화되는 시장 요구를 충족하고 다양한 종류의 기능 홀더에 의한 다기능을 실현합니다. 특수 기능 홀더와 결합된 다목적 스테이지를 통해 사용자는 평면 밀링 및 폴리싱, 스퍼터 코팅 및 보다 전통적인 단면 이온 밀링과 같은 다양한 기능을 수행할 수 있습니다.
기능
높은 처리량
고속 이온 소스 및 자동 시작 기능은 밀링 결과를 신속하게 제공합니다.
자동 처리 프로그램
고속 가공 및 정삭을 프로그래밍하여 단기간에 고품질 단면을 준비할 수 있습니다. 간헐적 처리는 용융 온도가 낮고 이온빔 조사에 민감한 재료의 준비를 향상하도록 프로그래밍할 수도 있습니다.
간편한 설치
모듈화된 홀더를 사용하면 IB-19530CP 내부 또는 외부 광학 현미경을 활용하여 밀링 영역을 정확하게 조정할 수 있습니다.
다목적 무대
평면 밀링 및 이온 빔 스퍼터 코팅을 포함한 추가 기능은 다양한 홀더를 통해 활용할 수 있습니다.
장수명 차폐판
차폐판의 수명은 기존 제품 대비 약 XNUMX배의 내구성을 가지고 있어 가공속도가 빠르고 수명이 연장됩니다.
제품 사양
| 이온 가속 전압 | 2 ~ 8kV |
|---|---|
| 밀링 속도 | 500μm/h 이상 |
| 최대 표본 크기 | 11mm(W) x 10mm(L) x 2mm(T) |
| 표본 스윙 기능 | ± 30° 밀링 중 시편 자동 스윙 |
| 자동 시작 모드 | 미리 설정된 압력 값에 도달하면 밀링 작업이 자동으로 시작됩니다. |
| 간헐 모드 | 펄스 제어 이온빔 조사로 밀링 중 이온빔 시편 노출 감소 |
| 마무리 모드 | 미세 표면 마감 밀링은 가공이 완료되면 자동으로 시작됩니다. |
카탈로그 다운로드
관련 상품
JSM-IT800 쇼트키 전계 방출 주사 전자 현미경
JSM-IT800은 고해상도 이미징과 빠른 원소 매핑을 위한 당사의 "In-lens Schottky Plus 전계 방출 전자총"과 혁신적인 전자 광학 제어 시스템인 "Neo Engine" 및 원활한 GUI "SEM Center" 시스템을 통합합니다. 공통 플랫폼으로 완전히 내장된 JEOL 에너지 분산형 X선 분광계(EDS)를 사용한 빠른 원소 매핑용.
JSM-IT800은 SEM의 대물렌즈를 모듈로 교체할 수 있어 다양한 사용자 요구 사항을 충족시키기 위해 다양한 버전을 제공합니다. JSM-IT800에서는 다양한 대물 렌즈와 함께 XNUMX가지 버전을 사용할 수 있습니다. 범용 FE-SEM인 하이브리드 렌즈 버전(HL); 더 높은 해상도의 관찰 및 분석을 가능하게 하는 슈퍼 하이브리드 렌즈 버전(SHL/SHL, 다른 기능을 가진 두 가지 버전); 그리고 새롭게 개발된 세미 인 렌즈 버전(i/is, 기능이 다른 두 가지 버전)으로 반도체 소자 관찰에 적합합니다.
또한 JSM-IT800은 새로운 SBED(Scintillator Backscattered Electron Detector) 및 VBED(다용도 후방 산란 전자 검출기)를 장착할 수도 있습니다. SBED는 높은 응답성으로 이미지를 획득하고 낮은 가속 전압에서도 선명한 재료 대비를 생성하는 반면 VBED는 3D, 지형 및 재료 대비의 이미지를 얻는 데 도움이 됩니다. 따라서 JSM-IT800은 사용자가 얻을 수 없었던 정보를 얻고 측정 문제를 해결할 수 있도록 도와줍니다.
IB-19520CCP 크로스 섹션 폴리셔™
처리 중 액체 질소로 시편을 냉각하여 열 손상을 줄일 수 있습니다.
액체 질소의 소비를 억제하도록 설계되어 냉각 시간이 길어집니다.
액체 질소에 담그면서 시편을 급속 냉각합니다. 실온으로 돌아갑니다. 부품을 분리할 수 있도록 설계되었습니다.
샘플을 공기에 노출시키지 않고 연마에서 관찰까지의 과정을 수행할 수 있는 메커니즘을 포함합니다.
JSM-IT700HR InTouchScope™ 주사 전자 현미경
SEM - 일상적인 실험실 작업에 필수 JSM-IT700HR로 쉽게 만들 수 있습니다.
나노 스케일 재료는 현재의 기술 혁신을 주도하고 있으며 새롭고 혁신적인 SEM인 JSM-IT700HR에 의해 관찰 및 분석이 촉진됩니다.
1nm의 공간 분해능과 300nA의 최대 프로브 전류를 갖춘 새로운 전자총은 매우 사용자 친화적인 소프트웨어 인터페이스와 결합되어 SEM에서 관찰 및 분석을 크게 단순화합니다.
컴팩트한 기기 디자인은 또한 EDS 통합뿐만 아니라 여러 액세서리 포트가 있는 대형 시편 챔버를 특징으로 합니다.
JSM-IT700HR 고급 SEM, 강력하고 사용하기 쉽습니다.
JSM-IT510 InTouchScope™ 주사 전자 현미경
모든 시편 유형에 대한 데이터 획득 용이
주사전자현미경(SEM)은 연구뿐만 아니라 품질 보증 및 제조 현장에서도 없어서는 안될 도구입니다.
이러한 장면에서는 동일한 관찰 프로세스를 반복적으로 수행해야 하며 프로세스의 효율성을 향상시킬 필요가 있습니다.
JSM-IT510에는 새롭게 추가된 Simple SEM 기능을 통해 사용자가 SEM 관찰에 필요한 "수동 반복 조작을 그대로" 할 수 있어 보다 효율적이고 쉽게 SEM 관찰이 가능하다.
JCM-7000 NeoScope™ 벤치탑 SEM
탁상형 주사전자현미경은 전기, 전자, 자동차, 기계, 화학, 제약 산업 등 다양한 분야에서 사용되고 있습니다. 또한 SEM 응용 프로그램은 연구 개발뿐만 아니라 제조 현장의 품질 관리 및 제품 검사까지 다루도록 확장되고 있습니다. 이에 따라 더욱 향상된 작업 효율성, 훨씬 빠르고 쉬운 작업, 더 높은 수준의 분석 및 측정 기능에 대한 요구가 증가하고 있습니다.
JCM-7000 Benchtop Scanning Electron Microscope는 "사용이 간편한 SEM과 원활한 탐색 및 실시간 분석"이라는 핵심 개념을 기반으로 설계되었습니다. JCM-7000은 세 가지 혁신적인 기능을 통합합니다. 광학에서 SEM 이미징으로 원활하게 전환하기 위한 "Zeromag", 이미지 관찰 영역의 구성 요소를 찾기 위한 "라이브 분석", SEM 관찰 중 재구성된 라이브 3D 이미지를 표시하기 위한 "라이브 3D".
JCM-7000을 광학현미경 옆에 놓으면 더 빠르고 상세한 이물분석 및 품질관리가 가능합니다.
