전자 프로브 미세 분석기(EPMA)
표면 조직 및 형태 관찰 및 국부 미량 원소 분석이 가능합니다. 파장 분산형 X선 분광계(WDS) 및 연성 X선 분광계(SXES)와 같은 검출기를 사용하면 주사형 전자 현미경(SEM)과 함께 사용되는 에너지 분산형 검출기(EDS)보다 더 자세한 측정 결과를 얻을 수 있습니다.
JEOL은 Soft X-ray spectrometer를 제안할 수 있는 세계 유일의 제조사입니다.
개발 /
설치 케이스
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