사용자 친화적인 PC 기반 운영
다용도로 사용하기 쉬운 X선 검출기인 EDS를 장착할 수 있습니다. 결합된 WDS snd EDS 시스템은 분석을 위한 매끄럽고 사용자 친화적인 환경을 제공합니다.
특징
JEOL은 반세기에 가까운 EPMA 개발의 오랜 역사를 이어가는 새로운 EPMA(Electron Probe Microanalyzer)를 개발했습니다. 사용자 친화적인 작동을 위해 설계된 JXA-8230은 새롭고 사용하기 쉬운 PC 기반 인터페이스를 통해 완전한 범위의 분석을 제공합니다. JXA-8230이 제공하는 높은 정확도와 빠른 속도는 거의 50년에 걸쳐 개선된 JEOL의 EPMA 기술로 개발된 정교한 하드웨어의 결과입니다. JXA-8230은 EPMA의 모든 요구 사항을 완벽하게 충족하는 강력한 차세대 분석 도구입니다.
EPMA 빠른 시작
아무 지점이나 클릭한 다음 분석 유형을 클릭하여 미리 설정된 정성적 또는 정량적 ED 또는 WD 분석을 시작합니다.
사용자 레시피
다양한 샘플 유형에 대해 자주 사용되는 분석 조건 세트를 저장하거나 불러옵니다. 모든 열, EDS 및 WDS 매개변수가 레시피에 포함됩니다.
EDS 기능
디지털 펄스 프로세서
스펙트럼 매핑(WD/ED, 스테이지 및 빔 스캐닝)
팬이 없는 SDD(옵션)
제품 사양
| 검출 가능한 요소 범위 | WDS： (수)※ 1) / B～U,EDS: B～U |
|---|---|
| 감지 가능한 X선 범위 | WDS로 감지 가능한 파장 범위: 0.087 ~ 9.3nm EDS로 감지 가능한 에너지 범위: 20keV |
| 분광기의 수 | WDS: 최대 5개 선택 가능, EDS: 1개 |
| 최대 표본 크기 | 100mm × 100mm × 50mm(높이) |
| 가속 전압 | 0.2 ~ 30kV(0.1kV 단계) |
| 프로브 전류 범위 | 10-12 10로-5 A |
| 프로브 전류 안정성 | ±0.05%/h, ±0.3%/12h(W) |
| XNUMX차 전자 이미지 해상도 | 6nm(W), 5nm(LaB6)※ 2 (WD 11mm, 30kV) |
| 스캐닝 배율 | × 40 ~ × 300,000(WD 11mm) |
| 스캔 이미지 해상도 | 최대 5,120 × 3,840 |
| 컬러 디스플레이 | EPMA 분석용 : LCD 1,280×1,024 SEM 운용 및 EDS 분석용 : LCD 1,280×1,024 |
Be 분석을 위한 선택적 분석 크리스탈 포함
랩6 선택
카탈로그 다운로드
어플리케이션
신청 JXA-8230
Soft X-ray Emission Spectroscopy에 의한 화학 상태 분석
