특징
EPMA(Electron Probe Microanalyzer)는 철강, 자동차, 전자부품, 전지소재 등 다양한 산업분야에서 연구개발 및 품질보증을 위한 도구로 활용되어 왔으며 그 응용이 더욱 확대되고 있습니다. 또한 학계에서 EMPA는 지구행성과학과 재료과학 분야에서 널리 활용되어 왔으며, 향후 광물 및 각종 신소재 등 재료에너지 연구를 아우르는 다양한 선진연구를 포함한 응용분야에 기여할 것으로 기대된다. 이에 대응하여 미량분석의 고성능을 유지하면서 누구나 접근할 수 있는 기기의 "간단하고" "빠른" 사용이 요구되고 있습니다.
JXA-iHP200F 및 JXA-iSP100은 향상된 기능을 갖춘 통합 EPMA로 이러한 요구를 충족하고 관찰에서 분석에 이르기까지 보다 효율적인 작업을 달성합니다.
EPMA는 Electron Probe Microanalyzer의 약자입니다.
환경
자동 로딩으로 홀더 삽입! 목표 관측점을 빠르게 찾아라!
클릭 한 번으로 시료 삽입 및 시료 홀더의 광학 이미지(Stage Navigation 이미지) 획득이 실행됩니다.
분석 필드는 스테이지 탐색 이미지에서 선택할 수 있습니다.
Analysis
누구나 고품질 SEM 이미지를 얻을 수 있는 자동 기능 간편한 기기 설정으로 빠른 원소 분석을 위한 간편한 EPMA
광학현미경의 Auto Focus 기능과 SEM의 Auto 기능과 더 높은 정확도와 더 빠른 기능을 갖춘 새로운 시스템을 통합하여 모든 사용자가 고품질의 SEM 이미지를 얻을 수 있습니다. "라이브 분석"은 관찰 중 원소 스크리닝을 가능하게 합니다. "Easy EPMA"가 있어 초보 사용자도 EPMA를 원활하게 조작할 수 있습니다. "EPMA-XRF 통합"은 XRF 데이터를 기반으로 EPMA의 조건 설정을 허용합니다. WD/ED의 통합으로 효율적인 분석 시간을 제공합니다. SEM, EDS, WDS 및 광학 이미지의 통합으로 조작성이 더욱 향상되었습니다.
Easy EPMA 설정 화면 및 표시 데이터
EDS 라이브 분석
WD/ED 통합으로 인한 분석 시간 단축의 예
통합: 한 번의 클릭으로 위와 같은 기술의 데이터를 통해 권장되는 요소를 기반으로 분석 결정 조합을 설정할 수 있습니다.
자체 유지 관리
18개의 내장된 표준 시편으로 효율적인 교정
새로운 분광계 보정 기능은 내장된 표준 시편을 사용하여 주기적인 보정 단계를 줄이고 오작동을 제거합니다.
야간에 자동화된 기기 교정을 실행하여 효율성을 높입니다.
유지보수 알림 기능은 필요한 시기에 적절한 유지보수를 보장합니다.
교정을 위한 18개의 내장 표준 시편
유지 보수 알림 기능 "고객 지원 도구"
JXA-iHP200F의 인렌즈 Schottky Plus FEG
렌즈 내 Schottky Plus FEG는 낮은 가속 전압에서 고해상도를 제공하여 고배율에서 공간 해상도가 높은 SEM 이미징 및 분석을 가능하게 합니다. 장기간에 걸쳐 높은 안정성으로 큰 프로브 전류를 달성하는 열이온 방출 건은 빠른 미량 원소 분석 및 여러 표본의 야간 분석에 적합합니다.
(링크)
보도자료(2019/11/13)
새로운 전자 프로브 마이크로 분석기 JXA-iHP200F 및 JXA-iSP100 출시 - 통합 EPMA의 진화 -
JXA-iHP200F/JXA-iSP100 스페셜 콘텐츠
카탈로그 다운로드
JXA-iHP200F 전계 방출 전자 프로브 미세 분석기(FE-EPMA)
어플리케이션
애플리케이션 JXA-iHP200F
갤러리 (Gallery)
관련 상품
관련 상품
연X선 방출 분광기(SXES)
SXES(Soft X-Ray Emission Spectrometer)는 새로 개발된 회절 격자와 고감도 X-ray CCD 카메라로 구성된 초고해상도 분광기입니다. EDS와 같은 방식으로 병렬검출이 가능하며 WDS의 에너지 분해능을 능가하는 0.3 eV(Fermi-edge, Al-L 규격)의 초고에너지 분해능 분석이 가능하다.
