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멀티빔 시스템(FIB)

집속 이온빔 시스템은 관찰 중 이온빔을 이용하여 시료를 고속, 고정밀로 밀링하는 장비입니다. 자동 밀링 및 3D 분석을 통해 투과형 전자 현미경(TEM)용 시편을 준비할 수 있습니다.
주사전자현미경(SEM)이 장착된 멀티빔 시스템은 검출기를 부착하여 다양한 분석이 가능합니다.

멀티빔 시스템(FIB) 라인업

멀티빔 시스템(FIB) 라인업

제품

FIB

JIB-PS500i FIB-SEM 시스템

JIB-4000PLUS 집속 이온빔 밀링 및 이미징 시스템

JIB-4000PLUS 집속 이온빔 밀링 및 이미징 시스템

JIB-4700F 멀티빔 시스템

JIB-4700F 멀티빔 시스템

FIB 옵션

CRYO-FIB-SEM IB-Z200021CFS 및 IB-Z200022CPC

IB-07080ATLPS, IB-77080ATLPS 자동 TEM 시편 준비 시스템 STEMPLING

IB-07080ATLPS, IB-77080ATLPS 자동 TEM 시편 준비 시스템 STEMPLING

FIB-SEM 시료 챔버 내부의 OmniProbe 350 Nano Manipulator

FIB-SEM 시료 챔버 내부의 OmniProbe 350 Nano Manipulator

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