멀티빔 시스템(FIB)
집속 이온빔 시스템은 관찰 중 이온빔을 이용하여 시료를 고속, 고정밀로 밀링하는 장비입니다. 자동 밀링 및 3D 분석을 통해 투과형 전자 현미경(TEM)용 시편을 준비할 수 있습니다.
주사전자현미경(SEM)이 장착된 멀티빔 시스템은 검출기를 부착하여 다양한 분석이 가능합니다.
멀티빔 시스템(FIB) 라인업
개발 /
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