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GC-MS: JMS-Q1500GC 마스터 쿼드 GC/MS

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GC-MS: JMS-Q1500GC 마스터 쿼드 GC/MS

이 차세대 GC/MS 시스템은 당사의 사중극자 MS 기술의 발전을 나타내는 우수한 성능 특성을 가지고 있습니다. JMS-Q1500GC는 농약 및 곰팡이 냄새에 대한 환경 분석, 재료 분석 및 방향 분석과 같은 광범위한 응용 분야에 사용할 수 있습니다.

특징

스캔 및 SIM 모드에 대한 더 높은 감도

JEOL의 Draw-in 렌즈를 더욱 개선하여 OFN 1pg에 대한 스캔 모드 감도를 QMS에서 가장 높은 S/N=>1000으로 개선했습니다.
SIM 모드에서 기기 감지 한계(IDL)에 대해 10fg 이하의 OFN이 달성되었습니다.

주입# 상온(분) Area 이력서% IDL
1 5.57 3065
2 5.57 2902
3 5.57 2981
4 5.57 2955
5 5.57 3028
6 5.57 3024
7 5.57 2987
8 5.57 3053 1.8% 6.3fg

SIM으로 272fg OFN을 8회 연속 측정한 EIC(m/z 100)

새로운 기능 "PEAK DEPENDENT SIM"

이 새로운 기능은 SIM 그룹화 프로세스를 단순화합니다. 새로운 "Peak Dependent SIM" 기능은 자동으로 최적의 그룹화를 설정합니다. 따라서 최적의 SIM 조건을 사용하여 누구나 쉽게 측정을 수행할 수 있습니다.
1그룹당 SIM 측정의 최대 채널 수는 100개이며, 최대 그룹 수는 300개입니다.
또한 1채널당 획득 시간을 0.1msec 이상*으로 원하는 대로 설정할 수 있습니다.

  • 선택한 SIM 설정 모드에 따라 다름

Peak Dependent SIM 조건과 일반 SIM 조건의 감도 비교

Peak Dependent SIM 기능을 사용하면 일반 SIM 조건으로 측정한 결과보다 감도가 2.4~5.5배 향상됩니다(3종 농약 비교).

비용 절감으로 간단한 유지 보수

비용 절감으로 간단한 유지 보수

JMS-Q1500GC는 더 큰 이온 소스 창을 활용하여 이온 소스 유지 관리를 단순화합니다. 이온 소스 챔버를 제거하거나 삽입하는 데 도구가 필요하지 않습니다.

GC/MS 종합 분석 소프트웨어 “Escrime”

당사의 Escrime 소프트웨어는 GC/MS 데이터의 보다 쉽고 효율적인 데이터 분석을 제공하는 포괄적인 분석 소프트웨어입니다. 이 소프트웨어는 업데이트된 사용자 환경도 제공합니다. 소프트웨어의 정성적 분석 부분이 업데이트되어 필요한 모든 정성적 정보를 하나의 창으로 통합했습니다. 모든 피크 정보는 피크 목록에 의해 제어되므로 효율적인 스펙트럼 분석, 라이브러리 검색, 크로마토그램 생성 등이 가능합니다.

Escrime 및 MSPRIMO™ 소프트웨어 패키지는 정성적 및 정량적 조건을 쉽게 조정할 수 있도록 직접 연결되어 이전 버전의 시스템에 비해 전반적인 작동 용이성을 향상시킵니다. 여러 구성 요소가 포함된 여러 샘플의 정량 분석은 Escrime 내에서 훨씬 쉽게 처리할 수 있습니다. 또한 정량 분석 ​​보고서 형식은 연구자의 요구에 따라 사용자 정의할 수 있습니다.

옵션

Head Space Auto Sampler(HS) GC/MS 시스템

헤드 스페이스 샘플러는 고체 및 액체에서 생성된 휘발성 유기 화합물(VOC) 분석에 사용되는 전처리 장치입니다.
JEOL에서 개발한 Head Space Auto Sampler는 루프 모드와 트랩 모드의 두 가지 작동 모드를 표준으로 제공하는 고유한 HS 시스템입니다.
물속의 곰팡이 냄새는 기존의 루프 모드로는 달성하기 어려운 1ppt까지 검출되었습니다.
또한 식품, 소재 등 휘발성 성분에도 적용이 가능합니다.
사진은 JEOL의 Head Space Auto Sampler와 결합된 JMS-Q1500GC GC/MS입니다.

열분해 GC/MS 시스템

열분해 GC/MS는 열분해기와 GC/MS를 결합한 분석 기술입니다. 이 기술은 열분해 조건에 ​​노출된 시료에서 생성된 유기 화합물의 분석에 매우 유용합니다. 합성고분자, 고무 등 고분자 물질의 분석에 사용할 수 있습니다.

직접 삽입 프로브

딥/딥

JMS-Q1500GC에는 선택적으로 사용할 수 있는 두 가지 유형의 시료 주입구 프로브도 있습니다. 각 프로브는 물리적 상태가 다른 다양한 유형의 샘플에 이상적입니다.

직접 삽입 프로브/C
(직접 삽입 프로브:DIP)

고체 또는 용액 샘플을 좁은 유리관에 넣은 다음 프로브 히터로 가열합니다.
가열에 의해 생성된 구성 요소는 이온 소스 내에서 이온화됩니다.

직접 삽입 프로브/F
(직접 노출 프로브:DEP)

용액에 용해된 샘플을 Pt 필라멘트에 적용합니다. 그 후 필라멘트에 전류를 가하여 샘플을 빠르게 가열합니다.
그런 다음 탈착된 구성 요소는 이온 소스 내에서 이온화됩니다.

직접 삽입 프로브가 있는 JMS-Q1500GC

운영 비용 절감

친환경 설계로 기존 모델 대비 전력사용량 절감 10 %.

어플리케이션

애플리케이션 JMS-Q1500GC

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