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JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-알파
고성능 가스 크로마토그래프
- 비행시간형 질량분석기

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha 고성능 가스 크로마토그래프 - ToF 질량 분석기

알파 – 새로운 시작

Alpha는 새로운 질량 분석의 세계로 안내합니다.
JMS-T2000GC 소개 "AccuTOF™ GC-알파", 뛰어난 성능과 간편한 작동을 갖춘 최고의 GC-MS입니다.

특징

    
             
  • 위의 상자에서 "다시보기" 버튼을 클릭하면 영화가 시작됩니다(4분 동안).

 

단순함을 유지하면서 고성능을 목표로 하는 AccuTOF™ GC-Alpha는 두 가지 새로운 핵심 기술을 사용합니다.

 

새로운 고성능 하드웨어

핵심기술 1

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha는 6세대 JEOL GC-TOFMS이며 초고해상도를 구현하기 위해 향상된 이온 광학 시스템을 갖추고 있습니다.
AccuTOF™ GC-Alpha는 이중 스테이지 반사체가 있는 직교 가속 비행 시간 질량 분석기(oaTOFMS)입니다. 높은 이온 투과율(=감도)과 초고해상도를 동시에 실현하는 이상적인 이온 광학계를 채용했습니다.

 

질량 분해능 및 질량 정확도 – 정성 분석에 중요

비행 시간 질량 분석기의 분해능은 위의 공식에 따라 계산됩니다. 이 방정식을 염두에 두고 새로운 JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha 하드웨어는 다음 원칙을 사용하여 초고해상도를 달성하도록 설계되었습니다.

  • t 더 길게 만들기: 비행 거리를 4m 늘립니다.

  • Δ t 더 작게 만들기: 듀얼 스테이지 반사체를 사용하는 새로운 이온 광학 시스템

  • Δ t 더 작게 만들기: 광범위한 운동 에너지를 가진 이온을 수용할 수 있는 이온 전달 시스템

 

새로 개발된 하드웨어로 AccuTOF™ GC-Alpha는 6세대 AccuTOF™ GC보다 1배 더 높은 분해능과 XNUMXppm 이하의 질량 정확도를 제공합니다.

타의 추종을 불허하는 고품질 데이터를 수집하는 AccuTOF™ GC-Alpha는 GC-MS 정성 분석을 위한 최고의 솔루션입니다.

AccuTOF™ GC-Alpha의 기본 성능

정성 및 정량 분석 ​​모두를 위한 고성능

XNUMX "높음" 사양과 두 개의 "와이드" 사양을 동시에 달성
JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha는 높은 질량 분해능, 높은 질량 정확도, 높은 감도, 고속 데이터 수집, 넓은 동적 범위 및 넓은 질량 범위를 동시에 구현하는 고성능 GC-MS 시스템입니다.

높은 질량 분해능과 높은 질량 정확도는 전례 없는 정성 분석 결과를 제공합니다. 고속 데이터 수집은 포괄적인 XNUMX차원 GC(GCxGC)와 같은 고급 GC-MS 측정에 사용할 수 있으며 넓은 동적 범위는 정량 분석뿐만 아니라 복잡한 혼합물의 정성 분석에도 유용합니다. 넓은 질량 범위는 직접적인 MS 측정에 특히 유용하며 고감도는 미량 성분에 대한 전례 없는 정보를 제공합니다.

AccuTOF™ GC-Alpha는 화학 분석의 한계를 제거한 진정한 고성능 GC-MS 시스템입니다.

고감도

초고감도의 표준 EI 이온 소스는 미량 정량 분석이 가능합니다.

기기 감지 한계: IDL=18.7 fg

표준 EI 이온 소스를 사용하여 100fg의 옥타플루오로나프탈렌(OFN)을 XNUMX회 연속 측정했습니다.
기기 검출 한계(IDL)는 피크 면적과 분자 이온에 대한 추출된 이온 크로마토그램의 재현성을 기반으로 계산됩니다. 시스템에 대해 18.7fg의 IDL이 달성되었습니다.

와이드 다이내믹 레인지: 4개 주문

표준 EI 이온 소스를 사용하여 0.1 ~ 1,000pg/uL(4차수) 범위의 농도에서 OFN을 측정한 결과 높은 선형성을 확인했습니다. 넓은 동적 범위는 정량 분석뿐만 아니라 농도가 다른 복잡한 혼합물의 정성 분석에도 유용합니다.

고속 데이터 수집: 50Hz

GCxGC 및 Fast GC 분석의 경우 크로마토그래피 피크가 매우 좁기 때문에 고속 데이터 수집을 지원하는 질량 분석기가 필요합니다. AccuTOF™ GC-Alpha는 초당 최대 50개의 스펙트럼으로 데이터를 수집할 수 있기 때문에 이러한 고급 크로마토그래피 기술에 적합합니다.

디젤 연료의 GCxGC/EI TICC

넓은 질량 범위: ~m/z 6,000

ToF 질량 분석기의 특징 중 하나는 넓은 질량 범위를 측정할 수 있다는 것입니다. 일반 GC-MS 기기의 상한은 일반적으로 약 m/z 1000인 반면 AccuTOF™ GC-Alpha는 m/z 6000 이상을 감지할 수 있습니다. 이를 통해 FD(필드 탈착)와 같은 직접 프로브 MS 방법을 사용하여 올리고머와 같은 샘플을 측정할 수 있습니다.

폴리스티렌 5200의 FD 질량 스펙트럼

높은 질량 분해능: 30,000

높은 질량 분해능은 정성 분석에 매우 중요합니다. 질량 분해능을 높이면 질량 스펙트럼 피크가 좁아져 다음과 같은 특징이 나타납니다.

  • 피크 중심의 안정성 증가 = 질량 정확도 향상

m/z 28의 질량 분리

높은 질량 정확도: 1ppm*1

높은 질량 정확도로 관찰된 이온의 원소 조성을 결정할 수 있습니다. "드리프트 보상 - 다중" 질량 보정 기능을 사용하여 메틸 스테아레이트에서 관찰된 10개 이온에 대한 평균 질량 정확도(절대값)는 0.05mDa 또는 0.45ppm이었습니다.

다양한 Soft Ionization이 제공하는 새로운 정성 분석 기능

AccuTOF™ GC-Alpha는 다양한 이온화 방법을 제공합니다.
소프트 이온화 - 정성 분석을 위한 강력한 도구
GC-MS에서 가장 널리 사용되는 이온화 기술인 EI는 감도와 재현성이 우수하며 다양한 라이브러리 검색 데이터베이스에서 지원됩니다.

추가 정보를 찾기 위해 GC-MS를 사용하는 모든 과학자에게 궁극적으로 중요한 것은 분자 이온 검출입니다. 70 eV의 높은 이온화 에너지를 사용하는 EI는 구조 정보를 얻는 수많은 조각 이온을 생성합니다. 그러나 EI는 종종 강한 분자 이온 신호를 나타내지 못합니다. 따라서 데이터베이스 검색에만 의존하는 경우 정성적 분석 결과가 부정확할 수 있습니다.

따라서 GC-MS 분석에서는 EI 외에도 다양한 soft ionization 기법을 사용하여 정성 분석의 정확도를 높이는 것이 중요합니다. 화학적 이온화(CI), 광이온화(PI) 및 필드 이온화(FI)는 모두 AccuTOF™ GC-Alpha에서 선택적으로 사용할 수 있습니다. 모든 이온화 기술에 대한 정확한 질량 측정 기능으로 분석물의 원소 조성을 안정적으로 결정할 수 있습니다.

FI 및 FD ~ 분자량 측정을 위한 이상적인 소프트 이온화 기법

FI 및 FD는 EI 및 CI보다 분석물에 더 낮은 내부 에너지를 제공하여 투명한 분자 이온을 생성하는 극도로 부드러운 이온화 기술입니다.

결과적으로 FI 및 FD는 분자량 측정에 이상적입니다.

 

FI(장 이온화)

  • 시료는 GC 또는 표준 시료 주입 시스템을 통해 이온 소스에 도입됩니다.

  • CI와 달리 FI는 시약 가스를 사용하지 않습니다. 분석 대상에 적합한 시약 가스를 선택할 필요가 없습니다.

FD(필드 탈착)

  • 샘플은 이미 터에 적용되고 시스템에 직접 도입됩니다.

  • 열적으로 불안정한 화합물의 분석에 적합합니다.

  • 비극성 용매에 용해되는 시료에 이상적입니다.

  • 용매에 분산 가능한 분말 샘플을 분석합니다.

  • 저-극성 금속 착물을 분석합니다.

  • 폴리머와 같이 GC-MS에서 지원되지 않는 고분자량 샘플을 분석합니다.

FI 및 FD에서 이온화는 높은 전기장의 작용을 통해 중성자에서 전자를 제거함으로써 발생합니다.

FI 및 FD ~ EI/FI/FD 조합 이온 소스(옵션)

EI(하드 이온화) 및 FI/FD(소프트 이온화) 기술을 모두 지원하는 단일 이온 소스입니다.
EI와 FI/FD 간의 전환은 간단하고 빠릅니다.

특징
• 이온 소스를 교체할 필요가 없습니다.
• 진공을 깨뜨릴 필요가 없습니다.
• 시약 가스가 필요 없음

이 조합 이온 소스를 GC와 함께 사용하면 다음과 같은 분석이 가능합니다.
• 라이브러리 검색을 통한 정성적 분석을 위한 GC/EI
• 분자량 측정을 위한 GC/FI
• 정확한 질량 측정

PI(광이온화) ~ EI/PI 조합 이온 소스(옵션)

PI는 이온화를 위해 진공 자외선(VUV) 램프의 광자를 사용하는 이온화 방법입니다. AccuTOF™ GC-Alpha에는 EI(hard ionization)와 PI(soft ionization)를 모두 제공하는 선택적으로 사용 가능한 조합 이온 소스가 있습니다. 이 소스를 사용하면 EI 필라멘트와 PI 램프를 간단히 켜고 끄는 것만으로 EI와 PI를 전환할 수 있습니다.

특징

  • 이온 소스를 교체할 필요가 없습니다.

  • 진공을 깰 필요가 없습니다

  • 시약 가스가 필요 없음


EI/PI 조합 이온 소스의 개략도


PI는 복잡한 혼합물의 방향족 화합물 분석에 특히 유용합니다. 이러한 화합물은 UV 광을 강력하게 흡수하기 때문에 PI와 함께 고강도 피크를 생성합니다.

 

간단하고 빠른 작업을 위한 차세대 분석 소프트웨어
핵심기술 2

GC-MS로 미지 화합물을 식별하기 위해 새로운 워크플로가 고안되었습니다. 이 워크플로우에서는 샘플에 존재하는 분석물을 식별하기 위해 하드 이온화(EI)로 얻은 데이터와 소프트 이온화(FI, PI, CI)로 얻은 데이터를 통합하여 데이터 분석을 수행합니다.

AccuTOF™ GC 시리즈용 msFineAnalysis 소프트웨어는 2018년 출시된 이후 미지의 화합물의 자동 정성 분석을 위한 혁신적인 소프트웨어 솔루션으로 호평을 받았습니다.

이 소프트웨어는 AccuTOF™ GC-Alpha에서 얻은 고품질 데이터를 최대한 활용하여 미지의 화합물 식별을 위한 정성 분석에 대한 새로운 접근 방식을 제공합니다.

msFineAnalysis AI로의 진화

msFineAnalysis AI는 미지 물질에 대한 새로운 구조 분석 도구를 제공합니다. 새로운 "통합 분석"은 GC/EI 고해상도 데이터, GC/소프트 이온화 고해상도 데이터 및 두 개의 AI(Main AI, Support AI)를 사용한 "구조 분석"을 결합합니다. 이러한 고급 AI 기술을 통해 msFineAnalysis AI는 이전에 GC-MS 정성 분석에 사용할 수 없었던 고유한 자동 구조 분석 기능을 제공할 수 있습니다.

msFineAnalysis AI의 기능

  • 자동 정성 분석을 위해 EI/SI 데이터 결합

  • XNUMX개의 AI를 이용한 구조해석

  • 크로마토그래피 피크 디콘볼루션

  • 공통 하위 구조를 가진 화합물 추출을 위한 그룹 분석

  • 2개의 샘플을 직접 비교하는 미분분석

  • EI 데이터 단독 분석도 지원

 

msFineAnalysis는 사용자가 데이터 분석 시간을 줄이고 연구 및 창의성에 더 많은 시간을 할애할 수 있도록 빠르고 효율적인 데이터 분석을 제공합니다!

Direct MS를 갖춘 AccuTOF™ GC-Alpha

Direct MS 모드는 GC에 적합하지 않은 고비점 및 고질량 화합물의 분석에 유용합니다.

고유한 넓은 질량 범위를 가진 TOFMS는 직접 MS 모드와 잘 어울립니다.

GC로 측정되는 화합물은 일반적으로 분자량이 500Da 미만이므로 GC-MS를 사용하여 분자량이 1000Da를 초과하는 화합물을 대상으로 하는 경우는 흔하지 않습니다. 그러나 직접 MS 모드(GC 사용 안 함)에서는 시료가 이온 소스에 직접 도입되기 때문에 비등점이 높고 분자량이 크고 비휘발성인 화합물이 측정 대상이 될 수 있습니다. AccuTOF™ GC-Alpha의 질량 범위는 m / z 6,000 이상. 기존의 GC-MS보다 더 넓은 질량 범위에서 화합물을 검출할 수 있기 때문에 시스템은 직접 MS 모드에서 측정하는 데 적합합니다.

선택할 수 있는 XNUMX개의 직접 MS 프로브

DEP(직접 노출 프로브)

  • 용제에 용해 또는 분산된 시료를 끝부분의 필라멘트에 도포합니다.

  • 고비점 및/또는 열에 불안정한 화합물에 적합

  • EI 및 CI와 호환 가능

DIP(직접 삽입 프로브)

  • 유리 샘플 튜브에 고체 샘플을 도입할 수 있습니다.

  • 고비점 및/또는 불용성 화합물에 적합

  • EI 및 CI와 호환 가능

FDP(필드 탈착 프로브)

  • 용매에 용해 또는 분산된 시료는 팁의 탄소 방출기에 적용됩니다.

  • 고비점, 고분자량 및/또는 열적으로 불안정한 화합물에 적합

  • 저-중극 금속 착물에 적합

  • FD 소프트 이온화에 사용

DIP/DEP/FDP용 로드록 플랜지

FD 및 KMD(Kendrick Mass Defect) 분석에 의한 폴리머 분석

FD는 높은 전기장에 의해 에미터에 인가된 분석물질 분자가 탈착되어 이온화되는 이온화 방법이다. 이미터를 통해 흐르는 전류는 탈착/이온화를 돕기 위해 분석물을 가열하기 위해 측정하는 동안 점진적으로 증가합니다. 이온화를 위한 최적의 이미 터 전류는 분석 물질에 따라 달라지므로 구성 요소는 서로 다른 시간에 탈착될 수 있습니다. 혼합물의 성분 분리가 가능하고 특정 종류의 화합물에 대한 질량 스펙트럼을 추출할 수 있습니다. 또한, 탈착/이온화 과정에서 화합물이 제때 분리되지 않는 경우에도 KMD 플롯을 생성하여 대상 성분을 여전히 명확하게 분리할 수 있습니다.

(링크)

  • 보도 자료:

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