새로운 자동 분석 시스템이 제공하는 높은 처리량의 분석 결과
AccuTOF™ GCx-plus는 AccuTOF™ GC 시리즈 제품 중 가장 진보된 질량 분석기 시스템입니다.
AccuTOF™ GCx-plus는 다양한 응용 분야에서 솔루션을 제공합니다.
특징
JMS-T200GC AccuTOF™ GCx-plus GC-TOFMS는 높은 질량 분해능, 높은 질량 정확도, 높은 감도, 빠른 데이터 수집 및 넓은 질량 범위를 달성하는 고급 GC-MS 시스템입니다.
새로운 자동 분석 시스템은 높은 처리량, 높은 정확도의 정성 분석 솔루션을 제공합니다.
자동 정성 분석을 달성하기 위한 세 가지 핵심 기술
세 가지 새로운 기능이 새로운 GC-MS 시스템에 통합되어 누구나 고정밀 정성 결과를 얻을 수 있습니다.
기술 1: GC/EI 데이터와 soft ionization 데이터 통합 분석
새로운 자동 분석 소프트웨어 "msFineAnalysis"는 GC/EI 데이터와 소프트 이온화 데이터(CI, FI, PI)를 결합한 XNUMX가지 정성 분석을 수행합니다.
도서관 검색
분자 이온 검색
정확한 질량 분석
동위 원소 패턴 분석
EI 조각 이온 분석
드리프트 보정에 사용되는 "m/z" 값과 내부 표준 시료를 도입하는 타이밍을 미리 설정하면 측정 후 드리프트 보정이 자동으로 실행됩니다. 측정된 데이터는 이미 드리프트 보정을 받았기 때문에 이러한 데이터는 "msFineAnalysis" 소프트웨어로 즉시 분석됩니다.
GC/EI 데이터와 GC/FI 데이터 연계
통합분석 결과
기술 2: 저수조 자동 ON/OFF 기능
저수지 자동 ON/OFF
밸브 제어는 소프트웨어를 통해 수행할 수 있습니다.
질량 교정(드리프트 보정)을 목적으로 내부 표준 시료를 도입하는 타이밍을 유연하게 설정할 수 있습니다.
기술 3: 드리프트 보정 승수
드리프트 보정 승수를 사용한 다점 보정으로 높은 질량 정확도를 달성합니다. 이 드리프트 보정 승수는 저수조 자동 ON/OFF 기능에 연결할 수 있습니다.
라이브러리 검색만으로 얻은 결과보다 정확도가 높은 GC-MS 정성분석 결과를 자동으로 제공합니다. 이 시스템은 데이터 분석 시간 단축과 매우 높은 정확도의 분석 결과를 제공합니다.
정성 분석을 지원하는 다양한 연성 이온화 기술 및 직접 분석
AccuTOF™ GCx-plus는 전자 이온화(EI)뿐만 아니라 다양한 연성 이온화 기술을 수용합니다.
이러한 소프트 이온화 기술은 "msFineAnalysis" 소프트웨어를 사용한 통합 분석에도 효과적입니다.
두 가지 조합 이온 소스를 사용하면 챔버의 진공을 저하시키지 않고 EI와 소프트 이온화 사이를 빠르게 전환할 수 있습니다.
또한 AccuTOF™ GCx-plus는 DEP(Direct Exposure Probe), DIP(Direct Insertion Probe) 및 FD(Field Desorption)를 포함한 직접 기술로 분석할 수 있습니다. 이 시스템은 또한 저휘발성 화합물 및 고비점 화합물 분석을 위한 직접 시료 주입구를 지원합니다.
| GC-MS용 | 전자 이온화(EI), 화학적 이온화(CI), 광이온화(PI), 전계 이온화(FI) |
|---|---|
| 다이렉트 MS의 경우 | 탈착 전자 이온화(DEI), 탈착 화학적 이온화(DCI), 전계 탈착(FD) |
EI/FI/FD 조합 이온 소스
EI/PI 조합 이온 소스
GCxGC-TOFMS 분석을 위한 빠른 데이터 수집
최대 50 spectra/sec의 고속 데이터 수집 속도는 초고분리 데이터를 제공하는 GCxGC-TOFMS 분석에 적합합니다. 이 GCxGC 분석은 소프트 이온화로도 수행할 수 있습니다. GCxGC가 제공하는 초고분리 분석은 복잡한 혼합 화합물 측정에 효과적입니다.
다양한 전처리 장비와의 손쉬운 연동
AccuTOF™ GCx-plus는 JMS-Q1500GC(GC-QMS)와 같이 다양한 전처리 장비와 조합하여 분석이 가능합니다.
따라서 Head space method, SPME method, Pyrogenic method 및 Thermogravimetry와의 조합으로 응용 분야가 확장됩니다.
높은 기본 성능
높은 감도
미량의 성분을 정성적, 정량적으로 분석할 수 있습니다.
Octafluoronaphthalene(OFN) 100 fg를 EI법으로 연속 측정(8주기)하여 EIC(m/z 271.9867)를 얻었다. 이 EIC에서 얻은 피크 영역의 반복 정확도를 기반으로 하한값(IDL)을 특정 신뢰도를 가정하여 계측기 감지에 대해 통계 계산을 수행한 결과 16fg의 IDL이 나왔습니다.
CV: 변동 계수, IDL: 기기 감지 하한
OFN 데이터에 대한 EIC의 중첩 및 재현성
높은 질량 정확도
검출된 이온의 정확한 질량 분석을 통해 이온의 화학식을 얻을 수 있습니다.
농도가 다른 측정 샘플의 질량 정확도
장기간에 걸친 안정성
고해상도
이 시스템은 몇 개의 10mm Da로 인접한 질량 피크를 분리할 수 있습니다.
아래 그림은 28 Da의 동일한 정수 질량을 가진 XNUMX종의 이온이 시스템의 높은 분해능으로 인해 명확하게 분리되어 검출되었음을 보여줍니다. 저해상도 시스템에서는 이러한 이온이 분리 및 검출되지 않아 관찰되는 질량 피크가 하나만 존재하여 원소 조성 및 강도(정량값)를 정확하지 않게 수집할 수 있습니다.
AccuTOF™ GCx-plus는 몇 개의 10mm Da로 인접한 질량 피크를 분리하여 정확한 정성 및 정량 분석을 가능하게 합니다.
나일론 66의 방출 가스 분석
빠른 데이터 수집
이 시스템은 최대 50 spectra/sec의 고속 데이터 수집으로 GCxGC 분석 및 Fast GC 분석을 지원합니다.
티트리 오일의 GCxGC / EI&FI 데이터
인계 농약 57개 성분의 Fast GC 데이터(하단)
넓은 질량 범위
AccuTOF™ GCx-plus는 질량 범위가 넓고 다양한 직접 시료 주입 기술을 통합하여 GC로 도입할 수 없는 큰 분자량의 시료를 측정할 수 있습니다.
폴리스티렌 5200의 FD 질량 스펙트럼
동적 범위
AccuTOF™ GCx-plus는 최대 4자릿수까지의 넓은 질량 범위를 가지므로 시스템은 GC-MS로서 정량 분석을 완벽하게 지원합니다.
OFN 0.1 ~ 1000pg에 대한 보정 곡선
분석을 지원하는 선택적 소프트웨어 시스템
정량 분석 소프트웨어 Escrime™
스펙트럼 분석 소프트웨어 Mass Mountaineer
GCxGC 분석 소프트웨어 GC Image※ 1
폴리머 분석 소프트웨어 Polymerix※ 2
통계 분석 소프트웨어 AnalyzerPro※ 3
GC 이미지 코퍼레이션
시에라 애널리틱스 코퍼레이션
스펙트라웍스 코퍼레이션
악기 외관 사진에는 옵션이 포함될 수 있습니다.
어플리케이션
애플리케이션 JMS-T200GC
GC-TOFMS 애플리케이션: 질소를 GC 운반 가스로 사용하는 EI/FI 및 PI 이온 소스의 검출 감도 검사
GC-TOFMS 애플리케이션: msFineAnalysis 버전 3(1)의 미분 분석 기능
GC-TOFMS 애플리케이션: msFineAnalysis 버전 3(3)의 미분 분석 기능
GC-TOFMS 애플리케이션: msFineAnalysis 버전 3(2)의 미분 분석 기능
GC-TOFMS 응용 프로그램: 열분해 GC-HRMS 및 msFineAnalysis와 함께 사용하는 비닐 아세테이트 수지의 통합 분석
AccuTOF™ GC 환경, 식품, 향료 및 향료 애플리케이션 노트북
AccuTOF™ GC 시리즈 석유 및 석유화학 애플리케이션 노트북
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GC-TOFMS 응용: GC 질소 운반 가스 용액: GC-TOFMS 정확한 질량 분석에서 헬륨과 질소 비교
