탁상형 주사전자현미경은 전기, 전자, 자동차, 기계, 화학, 제약 산업 등 다양한 분야에서 사용되고 있습니다. 또한 SEM 응용 프로그램은 연구 개발뿐만 아니라 제조 현장의 품질 관리 및 제품 검사까지 다루도록 확장되고 있습니다. 이에 따라 더욱 향상된 작업 효율성, 훨씬 빠르고 쉬운 작업, 더 높은 수준의 분석 및 측정 기능에 대한 요구가 증가하고 있습니다.
JCM-7000 Benchtop Scanning Electron Microscope는 "사용이 간편한 SEM과 원활한 탐색 및 실시간 분석"이라는 핵심 개념을 기반으로 설계되었습니다. JCM-7000은 세 가지 혁신적인 기능을 통합합니다. 광학에서 SEM 이미징으로 원활하게 전환하기 위한 "Zeromag", 이미지 관찰 영역의 구성 요소를 찾기 위한 "라이브 분석", SEM 관찰 중 재구성된 라이브 3D 이미지를 표시하기 위한 "라이브 3D".
JCM-7000을 광학현미경 옆에 놓으면 더 빠르고 상세한 이물분석 및 품질관리가 가능합니다.
특징
다운로드
Benchtop SEM JCM-7000을 사용하여 시료 처리 없이 빠른 관찰 및 분석!
-저진공(LV) 모드의 효과적인 사용 소개-
전기가 통하지 않는 절연체를 전처리 없이 SEM 관찰해 보시지 않겠습니까?
JCM-7000을 고분자 재료, 산업 재료, 광물, 식품, 생물/식물 등의 저진공(LV) 모드에서 효과적으로 사용하는 예를 소개합니다.
기존 SEM
기존의 SEM 작업에서는 SEM 이미징과 원소 분석이 분리되었습니다(이음새가 없음).
JCM-7000
"Zeromag"를 사용하면 JCM-7000을 사용하여 광학에서 SEM 이미징까지 원활하게 작동할 수 있습니다. 또한 "Live Analysis"를 사용하면 SEM 이미지 관찰 중에 EDS에 의한 원소 분석을 수행할 수 있습니다.
OM과의 비교
광학 현미경 이상의 통찰력 가속화
오염물질 분석
이물질 검출 용이
원소 조성 식별 용이
【예시】 식품 표면에 부착된 흑색 이물 분석
옴 이미지
OM 이미지에서는 백색과립(약물) 표면에 윤활유의 분포와 접착력을 확인하기 어렵다.
SEM 이미지(후방 산란 전자 구성 이미지)
동일한 시야(FOV)의 SEM 이미지는 다른 구성을 나타내는 다른 대비를 가진 입자를 보여줍니다.
SEM 이미지(후방 산란 전자 구성 이미지) 및 원소 분석 결과
관심 영역을 확대하면 식별된 주요 요소와 함께 즉각적인 라이브 EDS 분석에 액세스할 수 있습니다.
품질 관리
OM 이미징에서는 불가능한 고해상도 및 넓은 피사계 심도로 상세한 표면 구조를 관찰합니다.
【예시】과립(약물) 표면의 윤활제 분포 관찰
옴 이미지
OM 이미지에서는 과립 표면의 윤활제 분포와 접착 품질을 확인하기 어렵습니다.
SEM 이미지(후방산란 전자 구성 이미지)
후방 산란 전자 검출기가 제공하는 조성 대비와 함께 OM 이미징보다 SEM 이미징으로 제공되는 우수한 초점 심도는 과립 표면의 윤활제 분포를 명확하게 보여줍니다.
SEM 이미지(후방 산란 전자 구성 이미지) 및 원소 분석
윤활유의 접착 상태는 더 높은 배율로 관찰할 수 있습니다.
기능 및 응용
누구나 SEM/EDS 작업을 수행할 수 있는 기능
Zeromag 및 저진공 모드
제로맥
광학 이미지를 확대하면 자동으로 SEM 이미지로 전환됩니다!
저진공 모드
쉽게 충전된 샘플에 대한 전처리가 필요하지 않아 보기가 간단합니다.
표본: 소금
위 상자에서 "다시보기" 버튼을 클릭하면 영화가 시작됩니다(60초 동안).
살다! 살다! 살다!
라이브 분석
SEM 관찰과 EDS 분석을 별도의 작업으로 고려할 필요가 없습니다. Live Map을 선택하면 관찰된 지역의 원소 분포를 실시간으로 확인할 수 있습니다.
Live Analysis로 관찰하면서 스크리닝
Live Map으로 빠르게 요소 분포 확인
라이브 3D
새로운 고감도 4분할 후방 산란 전자 검출기는 Live 2D 기능을 사용하여 SEM 이미지와 3D 이미지의 3-pane 보기를 가능하게 합니다. 복잡한 지형을 가진 샘플에 대한 즉각적인 모양 결정 외에도 깊이 정보도 얻을 수 있습니다.
스마일뷰™ 랩
모든 데이터는 다음에서 관리할 수 있습니다. 스마일뷰™ 랩 데이터 관리 화면입니다.
이전에 획득한 데이터의 검토 및 재분석, 보고서 작성을 쉽게 수행할 수 있습니다.
위의 상자에서 "재생" 버튼을 클릭하면 영화가 시작됩니다(2.5분).
이 동영상은 Benchtop SEM JCM-7000 NeoScope™의 특징과 기능을 소개합니다.
영화별 기능 설명
다음 동영상은 Benchtop SEM JCM-7000 NeoScope™의 기능을 소개합니다.
간편한 조작을 위한 XNUMX가지 기능
JCM-7000은 사용하기 쉬운 것이 특징입니다. 초보자도 좋아할 세 가지 기능이 있습니다.
1. 손쉬운 데이터 수집을 위한 가이드 워크플로우
2. 컬러 이미지는 탐색을 단순화합니다.
3．고급 자동 기능
다양한 표본의 관찰 및 분석에 적합 - 고진공 모드는 고품질 측정을 제공합니다! –
JCM-7000은 전도성 시편의 관찰 및 분석을 위한 고진공 모드와 시편 처리 없이 전도성 시편의 관찰 및 분석을 위한 저진공 모드를 갖추고 있습니다.
따라서 JCM-7000은 다양한 시편의 SEM 관찰 및 EDS 분석에 사용할 수 있습니다.
관찰과 분석 모두 맡겨주세요
JEOL은 SEM과 EDS를 모두 자체 개발 및 제조하고 있습니다. SEM 관찰과 EDS 분석 모두 동일한 사용자 인터페이스 내에서 최적의 위치에서 작동할 수 있습니다. 영상관찰시 EDS 스크리닝 XNUMX가지 기능을 소개합니다.
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Benchtop SEM JCM-7000을 사용하여 시료 처리 없이 빠른 관찰 및 분석!
-저진공(LV) 모드의 효과적인 사용 소개-
전기가 통하지 않는 절연체를 전처리 없이 SEM 관찰해 보시지 않겠습니까?
JCM-7000을 고분자 재료, 산업 재료, 광물, 식품, 생물/식물 등의 저진공(LV) 모드에서 효과적으로 사용하는 예를 소개합니다.
어플리케이션
애플리케이션 JCM-7000
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액체 질소에 담그면서 시편을 급속 냉각합니다. 실온으로 돌아갑니다. 부품을 분리할 수 있도록 설계되었습니다.
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IB-19530CP는 혁신적으로 설계된 다목적 스테이지를 특징으로 하여 점점 다양화되는 시장 요구를 충족하고 다양한 종류의 기능 홀더에 의한 다기능을 실현합니다. 특수 기능 홀더와 결합된 다목적 스테이지를 통해 사용자는 평면 밀링 및 폴리싱, 스퍼터 코팅 및 보다 전통적인 단면 이온 밀링과 같은 다양한 기능을 수행할 수 있습니다.
