FEATURE
특징1 FE-SEM으로 얻은 고해상도 이미지.
인렌즈 쇼트키 플러스 전계 방출 전자총(FEG)
In-lens Schottky Plus FEG는 전자총과 저수차 집광렌즈의 일체화로 향상된 밝기를 구현하였습니다. 이 FEG를 사용하면 생성된 전자를 효율적으로 집중시킬 수 있어 낮은 가속 전압에서도 수 pA에서 수십 nA 수준의 프로브 전류를 가능하게 합니다. 고해상도 관찰이 쉽습니다. 빠른 원소 매핑에서 EBSD, SXES 분석으로의 작업을 위해 대물렌즈 조리개를 전환할 필요가 없습니다.
하이브리드 렌즈(HL)
JSM-F100은 JEOL의 정전기/전자기장 중첩 대물 렌즈인 하이브리드 렌즈(HL)와 함께 제공됩니다. 이 강력한 렌즈는 자기 및 절연 재료를 포함한 모든 표본을 높은 공간 분해능으로 관찰하고 분석할 수 있습니다.
JSM-F100 FE-SEM으로 나노 구조를 관찰할 수 있습니다. 애플리케이션에 적합한 관찰 조건과 검출기를 선택하면 다양한 표본에서 특징적인 SEM 이미지를 얻을 수 있습니다.
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표본: 탄소 상의 Pt 나노입자,
가속 전압: 20kV, WD: 2mm,
관측 모드: BD, 탐지기: UED -
표본: 전기 램프 리드,
가속 전압: 10kV, WD: 6mm,
관찰 모드: LV, 검출기: LVBED -
견본: 밀봉 테이프,
가속 전압: 0.5kV, WD: 2mm,
관측 모드: BD, 탐지기: UED -
표본: 생쥐 사구체의 초박절편,
가속 전압: 5kV, WD: 4mm,
관찰 모드: BD, 검출기: RBED(대조 반전)
특징2 매우 혁신적인 조작성
광학 이미징, SEM 이미징 및 EDS 분석이 통합되어
측정 처리량이 획기적으로 향상됩니다.
특징3
스마일뷰™ 랩
광학 및 SEM 이미지와 EDS 결과의 자동 연결
JSM-F100은 JEOL의 분석 기기에 사용되는 새로운 데이터 관리 시스템인 SMILE VIEW™ Lab과의 연결성을 제공합니다. 데이터 관리, 분석 및 보고서 생성에 유용합니다.
새로운 기능
새로운 기능 1
SEM용 내장 AI
LIVE-AI 필터 (Live Image Visual Enhancer – AI: LIVE-AI)※ 옵션
JEOL은 라이브 이미지의 고품질을 위해 LIVE-AI(인공 지능) 필터를 통합했습니다. 이미지 통합 처리와 달리 LIVE-AI 필터는 잔상 없이 매끄럽게 움직이는 라이브 이미지를 표시할 수 있습니다. 이 고유한 기능은 관찰 영역 검색과 초점 및 난시 교정에 매우 효과적입니다.
일반 모드와 LIVE-AI 필터 비교
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일반 모드
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LIVE-AI 필터 사용
표본: 개미 외골격. 가속전압:0.5kV, 검출기:SED
표본: 철 녹. 가속전압:1kV, 검출기:SED
새로운 기능 2
자동 대면적 획득
몽타주
각 영역의 자동 획득과 위치 영역 이동 보정으로 넓은 영역을 커버하는 몽타주 이미지는 영역과 획득 조건을 지정하기만 하면 획득할 수 있습니다. 획득한 몽타주 이미지에 디지털 줌을 적용하면 표본에 대한 자세한 정보가 표시됩니다. 또한 EDS를 이용한 몽타주 원소 지도를 동시에 얻을 수 있어 운영자의 도움 없이도 많은 양의 정보를 자동으로 획득할 수 있다.
새로운 기능 3
표본 교환 시스템
모든 크기의 표본 및 광학 이미징에 적용 가능
대형 시편 교환에 적합한 Draw-out 시스템을 기본으로 채택하였습니다. 또한 광학 이미지를 획득할 수 있어 관찰 영역 검색 및 데이터 관리가 더 빠르고 쉬워질 수 있습니다. 선택적 시편 교환 시스템을 사용하면 빠르고 깨끗한 시편 로딩/언로딩이 가능합니다.