JSM-IT800 스페셜 | 제품

JEOL JSM-IT800 쇼트키 전계방출 주사전자현미경

JEOL EDS(Energy Dispersive X-ray Spectrometer)를 표준으로 사용하는 쇼트키 전계 방출 주사 전자 현미경인 JSM-IT800은 새로운 GUI "SEM 센터"와 완전히 통합되어 관찰에서 원소 분석에 이르기까지 데이터를 논스톱으로 수집할 수 있습니다.
고급 통합 고성능 및 사용 편의성은 작업 효율성을 50% 이상 향상시켜 일일 측정을 높은 처리량으로 만듭니다.

특징1

특징 1
하이브리드 렌즈 버전(HL)/슈퍼 하이브리드 렌즈 버전(SHL)

정전기 및 전자기장 렌즈의 조합을 기반으로 두 가지 유형의 대물 렌즈 버전을 사용할 수 있습니다. 다양한 구성을 통해 JSM-IT800의 동일한 기능을 유지하면서 자성 재료에서 절연체에 이르기까지 광범위한 샘플의 높은 공간 해상도 이미징 및 분석을 달성하여 사용자의 다양한 요구를 충족할 수 있습니다.

특징2

특징 2
JSM-IT800〈SHL〉의 감지 시스템

표본: IC 칩 단면(표면 에칭, 오스뮴 코팅), 가속 전압: 5.0kV(BD 모드 제외), 관찰 모드: SHL, 검출기: UHD, UED(BSE 모드)
SE 이미지는 UHD를 사용하여 얻을 수 있습니다. UED를 사용하여 BSE 이미지를 얻을 수 있습니다.

시편: Cellulose Nanofiber (CNF), 가속 전압: 0.2 kV, 관찰 모드: BD, 검출기: UHD+UED(신호 추가)
표본 제공: 야노 히로유키 교수(일본 교토 대학 지속 가능한 인류권 연구소)
표본이 유기 섬유인 경우에도 유기 섬유의 빔 손상을 제어하여 관찰이 가능합니다.

특징3

특징 3
JSM-IT800을 사용한 EDS 매핑

BED(일반 BSE 검출기) 외에도 SBED(신틸레이터 BSE 검출기) 및 VBED(다용도 BSE 검출기)도 설치할 수 있습니다.

SBED(신틸레이터 BSE 검출기)

검출기에서 섬광체로 반도체 소자를 대체할 때 검출기의 책임과 감도가 향상됩니다.

표본: 마우스 신장의 초박막 절편(조영 복귀)
가속 전압: 5.0kV
스캔 속도: 0.04μsec/픽셀(5120×3840)

생물학적 초박형 관찰
고속 스캐닝을 통한 절편
견본: 토너
가속 전압: 1.5kV

컴포지션 이미지 얻기
낮은 가속 전압에서
시편: 철판(전위관찰용)
가속 전압: 25.0kV

높은 위치에서 전위 이미지 획득
가속 전압