JSM-IT810 시리즈 FE-SEM을 통해 다기능성과 높은 공간 분해능이 자동화를 충족합니다.
간소화되고 효율적인 작업 흐름을 위해 이미징 및 EDS 분석을 위한 코딩 없는 자동화가 내장되어 있습니다.
모든 SEM 사용자에게 고품질 데이터와 향상된 사용자 경험을 보장하기 위한 새로운 기능이 제공됩니다.
기능에는 SEM 자동 조정 패키지, 사다리꼴 보정 기능(EBSD 측정에 유용함) 및 표면 지형 관찰을 위한 실시간 3D 표면 재구성이 포함됩니다.
JSM-IT810 시리즈를 사용하면 FE SEM 작동이 그 어느 때보다 쉬워졌습니다.
특징
자동 관찰 및 분석 기능 "네오액션"
분석 조건 설정과 측정 영역 선택만으로 SEM 관찰, EDS 분석을 자동화할 수 있습니다.
샘플 :
콘드라이트 Julesberg의 콘드룰(L3.6)
착륙 전압: 5kV
SEM 자동 조정 패키지
SEM 자동 조정 패키지(옵션): 이 기능은 전용 샘플을 사용하여 배율 교정, 빔 정렬 및 EDS 에너지 교정을 수행합니다. 정기적인 점검을 통해 장비가 최적의 상태를 유지하는지 확인합니다.
라이브 3D 기능
샘플 표면의 실시간 3D 재구성을 생성하려면 당사의 다중 세그먼트 반도체 유형 BSE 검출기를 선택하십시오.
3D 이미지를 실시간으로 확인하여 샘플 토폴로지를 확인하세요.
EDS 통합
SEM에 의한 관찰과 EDS에 의한 원소 분석 사이의 장벽을 제거하는 차세대 운용성. 포인트, 영역, MAP, 라인 등 다양한 분석 방법을 관찰 화면에서 직접 예약하여 즉시 분석을 시작할 수 있습니다.
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