JCM-7000플러스
NeoScope™ 벤치탑 SEM

"지금"을 관찰하고 "다음"에 행동하라
실시간 관찰의 진화. 탁상형 주사전자현미경(SEM)

JCM-7000Plus 탁상형 주사전자현미경(SEM)은 단순한 관찰을 즉각적인 분석 결과로 전환시켜 줍니다. 고품질 SEM 이미지와 실시간 원소 분석, 자동화된 워크플로우를 결합한 이 탁상형 SEM은 사용자가 시료를 신속하게 이해하고 다음 단계로 자신 있게 나아갈 수 있도록 지원합니다.
자재 선별, 결함 조사 또는 품질 관리 수행 등 어떤 작업을 하든 JCM-7000Plus는 필요한 정보를 필요한 시점에 제공합니다.

기능

제로맥
광학 이미지에서 SEM 이미지까지 원활한 작동

광학 이미지를 확대하면 자동으로 SEM 이미지로 전환됩니다.
・표준 저진공 모드에서는 사전 처리 없이 간편하게 영상을 확인할 수 있습니다. 
• 또한, JCM-7000Plus는 명암, 밝기, 초점 및 비점수차를 자동으로 조정하여 고품질 SEM 이미지를 빠르게 생성합니다.

고급 4가지 라이브 기능
관찰하는 동안 표본에 대한 즉각적인 이해를 얻으세요

01. 실시간 분석
관찰 중 원소 분석

04. 라이브 파티클
입자 크기 자동 측정

저진공 모드
표본을 사전 처리 없이 있는 그대로 관찰하십시오.

전자빔을 비전도성(절연성) 시료에 조사하면 시료 표면에 전자가 축적되어 "대전" 현상이 발생합니다. 이로 인해 이미지가 흐려지거나 왜곡되고 노이즈가 발생할 수 있습니다. 저진공 모드에서는 시료 챔버에 가스나 공기를 주입하여 대전 현상을 줄임으로써 안정적인 관찰이 가능합니다. 유리, 세라믹과 같은 절연성 시료는 물론 식품, 고분자, 생물체와 같이 수분을 함유하거나 쉽게 대전되는 시료도 코팅 없이 관찰 및 분석할 수 있습니다.

자동 이미지 조정 x 고진공 모드 x 고해상도
6nm 해상도 달성

JCM-7000Plus는 다음과 같은 특징을 채택합니다. 착륙 전압(가속 전압) 최대 20kV! 향상된 자동 이미지 조정 기능과 이전 모델에서 검증된 고진공 모드가 결합되어 해상도가 더욱 높아졌습니다! 고해상도 관찰과 고정밀 EDS 분석을 통해 더욱 높은 수준의 데이터 품질을 제공합니다. 

고진공 모드
매우 정밀한 관찰 및 분석

고진공 모드에서는 전자 산란이 최소화되고 2차 전자를 효율적으로 검출할 수 있어 고배율에서도 미세 구조를 선명하게 관찰할 수 있습니다. 또한, EDS 분석을 통해 정성적 오차를 줄인 원소 분석이 가능합니다. 탁상형 SEM임에도 불구하고 형태 관찰과 원소 분석 모두에서 높은 정밀도의 데이터를 제공합니다.

향상된 자동화 기능

네오 액션
반복적인 측정을 자동화하세요

네오 액션(옵션)은 SEM 기능으로, 착륙 전압/신호 변경, 자동 이미지 조정, 사전 정의된 워크플로에 따른 위치 변경 등의 조건을 조정하여 마치 작업자가 조작하는 것처럼 시료를 자동으로 관찰/분석합니다.
이를 통해 데이터 수집부터 보고서 생성까지 일상적인 작업을 무인으로 수행할 수 있습니다.

기술 사양

주요 사양

카탈로그 다운로드

어플리케이션

갤러리 (Gallery)

JCM-7000Plus 관련 애플리케이션

입자 분석/상세 분류를 이용한 입자 자동 분류 ～석면 자동 분류 예시～

다양한 냉각 온도에서 관찰한 면의 단면

더 많은 정보