ID-04420펄스
PULSE STEM 디지털 프로세서(2ch)
ID-04440펄스
PULSE STEM 디지털 프로세서(4ch)
Pulse 시스템은 스캐닝 투과 전자 현미경 신호의 속도와 정밀도를 개선하기 위한 모듈식 및 개조 가능한 업그레이드입니다. 핵심적으로, 신틸레이터 기반 기술을 사용하는 것을 포함하여 전자 검출기에서 아날로그 신호를 스트리밍하고, 개별 전자 이벤트를 식별하고 완전히 디지털 출력을 반환합니다. 그 결과, 진정한 제로 배경 수준과 순수한 포아송 노이즈가 있는 개별 전자의 교정된 단위가 있는 이미지가 생성됩니다.
기능
TTL 디지털 입력을 허용하는 모든 수집 시스템에 연결합니다.
진정한 제로 다크 레벨과 순수한 포아송 노이즈를 사용하여 정량화 가능한 이미지를 생성합니다.
기존 검출기와 함께 작동하여 분광학을 포함한 이미지를 동시에 수집합니다.
두 개의 별도 검출기에서 전자를 계산하기 위한 두 개의 채널을 갖추고 있습니다.
기술 사양
| 2 채널 | 4 채널 | ||
|---|---|---|---|
| 번호 채널 | 2 인, 2 아웃 | 4 인, 4 아웃 | |
| 연결 | BNC | ||
| 입력 범위 | 최대 ±10V | ||
| 입력 해상도 | 14-bit | ||
| 입력 임피던스 | 50 Ω | ||
| 샘플 속도 | 125Msps(채널당) | ||
| 출력 전압 | 3.3V CMOS, 5V TTL | ||
| 출력 주파수 | 출력 주파수 | ||
| 출력 | 5V(USB-C 또는 배럴 잭) | ||
| 제어 인터페이스 | RJ45 이더넷 | ||
갤러리 (Gallery)
신틸레이터 검출기(위)와 미분 신호(아래)의 원시 데이터 스트림. 수평 점선은 검출된 전자를 보여주는 수직선이 있는 예시 임계값을 보여줍니다. 오른쪽은 아날로그 및 펄스 검출의 고속 저선량 이미지를 보여주며 펄스를 사용할 때 시간적 반응이 개선되었음을 보여줍니다.
아날로그(왼쪽) 및 펄스(오른쪽) 신호를 사용하여 얻은 FIB 라멜라의 저배율 이미지. 아날로그 신호에서 진공으로의 느린 스트리킹을 관찰할 수 있습니다.
전자 계수법을 이용한 STEM의 신호 대 잡음비(S/N) 향상
투과 전자 현미경에 STEM 디지털 프로세서(ID-04420PULSE / ID-04440PULSE)를 장착하면 기존의 아날로그 신호 처리 방식 대신 전자 계수 방식을 이용하여 STEM 이미지를 획득할 수 있습니다. 이 기술은 주요 노이즈 발생원과 검출기에서 발생하는 잔광 현상을 제거함으로써, 특히 고속 스캐닝 시 더욱 선명하고 노이즈가 적은 이미지를 구현할 수 있도록 합니다.
이 기능은 고급형 이벤트 기반 변조 시스템(ID-04320TEMPO/ID-04340TEMPO)에서도 사용할 수 있습니다. 하지만 이벤트 기반 변조 시스템의 모든 기능을 활용하려면 EDM Basic 또는 EDM Synchrony가 필요합니다.
