기능
시간 해상도:
상대성TM 100ns 이내에 하위 프레임 영역 간 전환을 수행합니다.연속 kHz 스케일 비디오:
상대성TM 최대 100kHz의 하위 프레임 속도를 유지할 수 있습니다.맞춤형 애플리케이션:
상대성 이론을 통합하다TM 현장 홀더, 레이저, IDES 정전 용량 조절기 또는 기타 액세서리를 사용합니다.간단한 현장 설치:
상대성TM의 정전기 광학 장치는 액세서리 포트를 통해 설치됩니다.눈에서 멀어지면 마음에서도 멀어진 다:
광학 장치는 사용하지 않을 때 공압식으로 빔에서 빠져 나옵니다.Acuity Edge 분석 서버:
하위 프레임의 분할 및 정렬을 통한 자동화된 데이터 처리는 데이터를 최대한 활용하는 데 도움이 됩니다.고급 제어 소프트웨어:
직관적인 인터페이스로 측정 프로그램 간에 원활하게 이동하거나 강력한 도구를 사용하여 새로운 것을 설계하십시오.
상대성 이론은 어떻게TM 일하세요?
상대성TM 광각 카메라 포트에 정전식 광학 어셈블리를 설치합니다. 이 광학 장치는 이미지 데이터를 프로그래밍 가능한 순서에 따라 카메라의 여러 영역(또는 서브프레임)으로 빠르게 편향시킵니다. 각 카메라 판독값에는 선명하고 흐릿함 없는 서브프레임이 타일 형태로 배열되어 있습니다. 원시 데이터는 자동으로 분석되어 이미지 스택을 생성합니다.
적용 모델: JEM-ARM300F/300F2, JEM-ARM200F, NEOARM, JEM-F200, JEM-2100Plus, JEM-2100F
왼쪽: 19,200kV에서 GRAND ARM™의 금 나노입자 샘플을 사용하여 얻은 원자 분해능의 80fps 연속 비디오. 상단: 노출 시간이 52μs인 왼쪽 타일링 데이터 중 하나의 하위 프레임.
기술 사양
| 지원되는 카메라 유형 | 하단 장착 카메라(1) |
|---|---|
| 상대성TM 디플렉터 모듈 설치 위치 | 측면 장착 카메라 포트(2) |
| 카메라의 최대 서브프레임 크기 | 7의 mm X 5.3 mm(3) (460 x 350픽셀(4), GATAN OneView가 탑재된 JEM-F200) |
| 네이티브 서브프레임 배열 레이아웃 (중복 없음)(5) |
8kV 이하에서 10 x 200, 7kV에서 8 x 300 (GATAN OneView, ClearView, TVIPS XF416R 제공) 5 x 6 (GATAN RIO16 제작) |
| 서브프레임 어레이 레이아웃(6) | 5kV 이하에서 7 x 8, 10 x 12, 12 x 200 5kV에서 7 x 7, 8 x 9, 9 x 300 (GATAN OneView 또는 ClearView 또는 TVIPS XF416R용) 5 x 4, 5 x 6, 8 x 8 (GATAN RIO16 제작) |
| 가속 전압(7) | 40kV 이상 (GATAN OneView, ClearView, TVIPS XF416R 제공) 80kV 이상(GATAN RIO16 기준) |
| 보조 논리 출력 수량 샘플 속도 |
4 x TTL 호환 출력 100 MS/s (MS: 메가 샘플링) |
| 트리거 입력 | 2 x TTL 호환 입력 |
연속 프레임 녹화 기능(GATAN IS 모드, TVIPS 현장 패키지 등)을 강력히 권장합니다.
JEM-2100Plus에서는 RelativityTM 디플렉터 모듈은 왼쪽 STEM 감지기 포트에 설치됩니다.
서브프레임 크기는 디플렉터 전극 사이의 간격(디플렉터 갭)에 의해 제한됩니다.
자세한 정보는 Relativity의 사양서에서 확인할 수 있습니다.TM서브프레임 크기는 TEM 및 하단 장착 카메라에 따라 달라집니다. 필요하시면 IDES에 문의하세요.
레이아웃은 TEM 및 하단 장착 카메라에 따라 달라집니다. 필요하시면 IDES에 문의하세요.
지리적 제약으로 인해 다양한 검출기 크기에 맞게 서로 다른 서브프레임 배열 레이아웃이 최적화됩니다.
상대성TM 이 시스템은 거의 모든 상용 카메라와 호환됩니다.
다른 카메라가 구성되어 있는지 IDES에 문의하세요.해당 가속 전압은 TEM과 카메라에 따라 다릅니다. TEM에 다른 카메라가 있는지 IDES에 문의하세요.
갤러리 (Gallery)
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CeO의 밀리초 미만 시간 분해능 TEM 이미지2 Relativity™를 사용하여
최근 몇 년 동안 CMOS 카메라 프레임 시간은 수십 밀리초로 단축되었지만 더 빠른 이미징 기술이 필요합니다. 원위치 동적 시편 변형을 시각화하기 위한 TEM 관측. 본 논문에서는 IDES에서 제작한 정전 빔 편향기를 기반으로 하는 Relativity™ 서브 프레이밍 시스템을 사용하여 밀리초 미만의 시간 분해능을 갖는 TEM 관측 결과를 보고합니다.
Relativity™ 시스템은 현미경의 투사 렌즈 아래에 설치되어 TEM 이미지가 카메라 센서에 도달하기 전에 빠르게 정전기적으로 굴절시킵니다. 이를 통해 단일 카메라 노출 내에서 여러 개의 작은 하위 프레임 이미지를 포착하여 카메라의 기본 프레임 시간보다 짧은 시간 단위로 녹화하고 이미지를 순차적으로 재구성할 수 있습니다.
먼저, 25fps(40ms/프레임)의 표준 CMOS 카메라 영상과 500 x 2 서브프레임 구성의 Relativity™ 시스템을 사용하여 획득한 488fps(272ms/프레임, 서브프레임당 4 x 5) 영상을 비교했습니다. 동일한 시야각에서 직접 비교를 용이하게 하기 위해, 25fps 영상에서 25개의 서브프레임마다 하나의 서브프레임을 추출하여 유사 500fps 영상을 생성했습니다. 두 영상 모두 동적 거동을 명확하게 보여주기 위해 약 1/8배속(각각 60fps 및 3fps)으로 재생했습니다. 아래 버튼을 클릭하면 영상을 볼 수 있습니다. 관찰된 시료는 Au 나노입자였습니다.
우리는 또한 CeO의 (111) 표면 면의 시간적 진화를 관찰했습니다.2 나노입자 [1]가 [1-10] 입사 방향을 따라 이동합니다. 40ms 노출 동안 전자빔을 순차적으로 굴절시켜 49개의 이미지를 기록하여 TEM 이미지당 약 0.82ms의 시간 분해능을 얻었습니다. 그림 1은 시퀀스의 세 번째(1.63ms) 프레임과 여덟 번째(5.71ms) 프레임을 보여줍니다. 약 4ms 이내에 발생하는 원자 기둥 구조 변화가 명확하게 시각화됩니다. 아래 버튼을 클릭하면 동영상을 볼 수 있으며, 일반적인 프레임 속도로는 포착하기에는 너무 빠른 단일 원자 변동을 보여줍니다.
[1] 세오2 나노입자 표본: Johnson Matthey(영국) 제공.
