ID-04320템포
TEMPO 이벤트 기반 변조 시스템(2ch)
ID-04340템포
TEMPO 이벤트 기반 변조 시스템(4ch)
TEMPO(Trigger-Event Modulated Probability Observation)는 STEM 실험에서 주어진 전자 조사량 대비 얻을 수 있는 정보량, 즉 정보 효율을 향상시킵니다. 개념은 간단합니다. STEM 스캔의 각 지점에서 검출되는 전자 수가 많아질수록 정보 효율이 크게 떨어지므로, 각 체류 시간 동안 일정 개수(일반적으로 1~25개)의 전자가 검출되면 전자빔을 빠르게 끄고 다음 체류 시간 시작 시 다시 <binary data, 5 bytes>니다. 이 새로운 이미징 패러다임인 TEMPO에서는 픽셀 강도를 고정된 시간 동안 검출된 전자 수 대신 고정된 개수의 전자를 검출하는 데 걸린 시간으로 정의합니다. 이러한 차이가 작아 보일 수 있지만 시료 손상을 최소화하는 데에는 상당한 영향을 미칩니다. TEMPO는 EDM Synchrony가 필요한 선택 사양입니다. 구성 시 EDM Synchrony를 반드시 포함하십시오. 이미 제공된 TEM에 EDM Synchrony가 구성되어 있는 경우 TEMPO를 추가로 장착할 수 있습니다.
기능
기존 아날로그 STEM 감지기 및 TTL 구동 빔 블랭커와 호환됩니다.
최소로 전달된 전자량에서 최대 정보 효율성을 추출합니다.
블랭킹 트리거 조건을 통해 전체 듀티 사이클 범위에서 복용량이나 정밀도를 유연하게 균형 잡습니다.
기술 사양
| 2 채널 | 4 채널 | ||
|---|---|---|---|
| 펄스 채널 | 2 인, 2 아웃 | 4 인, 4 아웃 | |
| 템포 출력 | 2(단일 입력에서) | ||
| 템포 전압 | 3.3V 또는 5V | ||
| 템포 해결 | 8ns | ||
| 픽셀 클럭 입력 | 3.3V CMOS - 5V TTL 호환 | ||
| 빈 신호 출력 | 3.3V CMOS, 5V TTL | ||
| 연결 | BNC | ||
| 신호 범위 | 최대 ±10V | ||
| 신호 해상도 | 14-bit | ||
| 입력 임피던스 | 50 Ω | ||
| 샘플 속도 | 125Msps(채널당) | ||
| 펄스 전압 | 3.3V CMOS, 5V TTL | ||
| 펄스 주파수 | 최대. 62.5MHz | ||
| 출력 | 100-240V AC | ||
| 제어 인터페이스 | RJ45 이더넷 | ||
갤러리 (Gallery)
소재 적용
SrTiO의 TEMPO와 기존 STEM 이미징의 이미지 대비 비교3. 두 이미지 모두 마이크로초당 이벤트 단위로 표시됩니다. TEMPO에서 제공하는 정량적 정보는 기존 방식과 동일합니다. TEMPO 이미지는 픽셀당 210개의 전자를 사용한 반면 기존 이미지는 대략 동일한 총 평균 복용량을 사용했습니다.
샘플 : 제올라이트 FAU Y형 <110>
방법: ADF STEM
장비 : JEM-ARM300F2 (와이드갭)
교정기: STEM-ETA 교정기(JEOL 교정기)
가속전압 : 300kV
스캔 배율 : ×12,000,000
데이터 수집: 중첩, 20개 이미지
노출시간 : 10μs/pix
수렴 반각: 8 mrad
에너지 분포 : 0.37 eV (참고값)
프로브 전류: 0.57 pA
제올라이트는 전자빔 조사에 민감하여 투과 전자 현미경으로 고해상도 이미징을 하는 데 매우 까다로운 샘플입니다. 위의 제올라이트 STEM 이미지는 IDES, Inc의 전자선량 변조기와 이벤트 기반 변조 시스템(TEMPO) 및 turboTEM을 사용하여 전자빔 손상을 크게 줄여서 얻었습니다. 픽셀당 두 개의 전자가 감지된 STEM 이미지를 얻었고, 동일한 조건에서 연속된 20개의 STEM 이미지를 얻었습니다. 왼쪽의 이미지 A는 첫 번째 STEM 이미지를 보여주고, 오른쪽의 이미지 B는 20번째 STEM 이미지를 보여줍니다. 20개의 STEM 이미지는 템플릿 매칭을 통해 중첩되어 샘플 드리프트를 보정하여 위의 이미지 C를 만들었습니다. 평균 전자빔 선량은 371 e-/Å입니다.2.
전자 계수법을 이용한 STEM의 신호 대 잡음비(S/N) 향상
투과 전자 현미경에 STEM 디지털 프로세서(ID-04420PULSE / ID-04440PULSE)를 장착하면 기존의 아날로그 신호 처리 방식 대신 전자 계수 방식을 이용하여 STEM 이미지를 획득할 수 있습니다. 이 기술은 주요 노이즈 발생원과 검출기에서 발생하는 잔광 현상을 제거함으로써, 특히 고속 스캐닝 시 더욱 선명하고 노이즈가 적은 이미지를 구현할 수 있도록 합니다.
이 기능은 고급형 이벤트 기반 변조 시스템(ID-04320TEMPO/ID-04340TEMPO)에서도 사용할 수 있습니다. 하지만 이벤트 기반 변조 시스템의 모든 기능을 활용하려면 EDM Basic 또는 EDM Synchrony가 필요합니다.
생물학적 응용
픽셀당 1개 이벤트
픽셀당 3개의 이벤트
픽셀당 7개의 이벤트
픽셀당 14개의 이벤트
다양한 이벤트 번호 후 빔 블랭커 트리거링으로 기록된 인간 대식세포의 TEMPO 이미지. 대조는 산란율 값을 나타냅니다. 데이터 출처: turboTEM.
TEMPO를 사용하여 기존 STEM과 비교했을 때 인간 대식세포 샘플의 손상이 감소한 예. TEMPO 이미징(픽셀당 전자 3개, 평균 프레임 10개 사용) 후 초기 상태가 보존됩니다. 기존 이미징(평균 프레임 10개) 중 및 이후에 샘플은 상당한 손상과 왜곡을 보입니다. 데이터 출처: turboTEM.
