고감도, 고분해능 액체질소 Si(Li) 반도체 검출기가 장착된 X-선 형광 분광기
특징
JSX-3400RII는 액체질소형 검출기를 사용한 가성비가 뛰어난 범용 XRF 기기입니다.
JSX-3400RII는 무거운 원소에 대한 고감도 Si(Li) 검출기, 기계보다 과거의 샷 경로 광학 시스템 및 특수 필터를 사용합니다. JSX-3400RⅡ는 짧은 시간에 미량 원소를 측정할 수 있습니다.
JSX-3400RⅡ 검출기의 분해능이 높아 Mg, Al, Si 등의 경원소 피크를 매우 선명하게 분리할 수 있습니다.
정량분석은 표준물질 없이 단순하게 FP법(Fundamental Parameter Method)을 이용하여 진행합니다.
1mmphi의 콜리메이터가 기본 장착되어 있어 미세한 이물질 확인도 가능합니다.
JSX-3400RII는 sum-peak의 현실적인 특징을 기준으로 정성 분석이 용이합니다.
옵션의 Sum-Peak Removal 소프트웨어를 사용하면 정량 분석 방법의 정밀도를 더욱 향상시킬 수 있습니다.
박막 FP법은 두께와 조성을 분석할 수 있습니다.
복합 도금, 기준 시료가 없는 합금 도금과 같은 다층 박막의 각 층의.
제품 사양
| 감지 요소 범위 | 나 투 유 |
|---|---|
| 엑스레이 생성기 | 5~50kV 1mA 50W |
| 목표 | Rh |
| 필터 | XNUMX위치 자동 교환(열림 포함) |
| 시준기 | 1mmm/3mmm/7mmm |
| 탐지기 | Si(Li) 반도체 검출기 |
| 액체 질소 | 3L dewar, 소비 1L/일 |
| 샘플 챔버 크기 | 직경 300mm x 150mm(높이) |
| 샘플 챔버의 분위기 | 공기(진공: 옵션) |
| 개인 컴퓨터 | 운영체제:Windows®7
액정 디스플레이 컬러 프린터 |
| 소프트웨어 | RoHS 분석 : 플라스틱 5원소 분석, 금속재료 5원소 분석, 분석결과 보고 소프트웨어
일반 분석: 벌크 FP법, 박막 FP법 검량선법 |
| 유지 보수 소프트웨어 | 기기 교정 소프트웨어, JSX 스타터 |
| 제공된 샘플 | 에너지보정시료 , 기기점검시료 , 광량표준시료 |
주의 사항:Windows는 미국 및 기타 국가에서 Microsoft Corporation의 등록 상표입니다.
