Lorentz TEM의 자기 이미징을 위한 JEM-2100F 적용

Lorentz TEM을 사용하면 샘플의 자기 유도 필드를 정량적으로 매핑할 수 있습니다. 특별히 설계된 대물 렌즈, 결맞음 전자원 및 바이프리즘 필라멘트는 축외 전자 홀로그래피 실험을 통해 나노미터 규모의 자기 이미징을 달성할 수 있습니다. 그러나 이 장비는 특수 장비이므로 많은 현미경 검사실에 적합하지 않습니다. 이 기사에서는 Lorentz 위상 현미경, 즉 Fresnel-contrast 이미징을 위한 기존 JEM-2100F의 적응에 대해 설명합니다. 이 현미경에는 biprism filament가 장착되어 있기 때문에 Fresnel-contrast magnetic imaging의 성능을 평가합니다. 비교적 간단하고 저렴한 적응이 기존 TEM에서 정량적 자기 및 정전기 매핑을 가능하게 함을 보여줍니다.