X-ray 분석에 의한 Resin 표면의 이물질 시험/분석

제품에 포함되거나 부착된 오염 물질을 분석하면 이물질이 유입되는 경로 또는 고장 원인에 대한 중요한 정보를 얻을 수 있습니다.
ED-XRF(X-ray Fluorescent Spectrometer)는 고체, 액체, 분말 등 모든 시료 유형에 대해 빠르고 비파괴적인 원소 분석을 제공할 수 있어 스크리닝 장비로 활용할 수 있습니다.