황동 배관 부품의 균열 분석
XRF 및 EPMA를 이용한 문제 원인 규명
개요
제품 고장의 원인을 파악하고 재발을 최소화하기 위해서는 조기에 불량추적을 하는 것이 필요합니다.
X선 형광 분광기(ED-XRF)는 고체, 액체, 분말 등 모든 시료 상태에 대해 빠르고 비파괴적인 원소 분석을 제공할 수 있습니다. 문제의 원인을 신속하게 찾아내는 데 유용한 선별 검사 장비로 활용될 수 있습니다.
ED-XRF
냉각수용으로 사용된 황동관에 균열이 발생하여 누수가 일어났다. ED-XRF를 이용하여 균열 부위와 균열 부위에서 떨어진 곳에서 원소 분석을 수행했다.
원소 분석 결과 Sn과 Pb 함량에 차이가 있는 것으로 나타났습니다. 균열 부위의 원소 분포가 정상 부위와 다르기 때문에 EPMA를 이용한 추가 분석을 실시했습니다.
EPMA
EPMA는 구성뿐만 아니라 공간적 분포까지 확인할 수 있습니다.
EPMA를 이용한 원소 매핑 결과, 주요 원소인 Cu와 Zn의 구조 크기가 파손 부위와 정상 부위에서 서로 다른 것으로 나타났다.
제품 개요
ED-XRF를 이용하면 포함된 원소에 대한 정보를 빠르고 쉽게 얻을 수 있습니다. 또한, 이러한 원소 정보를 바탕으로 조사에 필요한 추가 분석 유형을 결정할 수 있습니다. EPMA의 원소 매핑은 원소 분포 상태 및 구성 정보를 제공하여 문제의 원인을 파악하는 데 도움을 줍니다.
