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전자현미경 용어집

전자현미경 용어집은 기본적인 학문적/기술적 문제(용어)에 대한 이해를 돕기 위한 것입니다.
새로운 용어를 추가하고 일러스트레이션과 이미지를 풍부하게 하여 용어집의 확대 및 개선을 위한 노력을 계속하고 있습니다.
전자현미경 용어집이 사용자의 용어 이해와 효과적인 사용에 도움이 되기를 바랍니다.

분야별 용어집

  • TEM 용어집

    TEM 용어집 약관

  • SEM 용어집

    SEM 용어집 약관

최신 학기

  • 2022/03/14

    走査電子顕微鏡基本用語集で1語 (集束い온빔装置) の改定 (説明文の拡充と図の追加) を実施しました

  • 2022/03/14

    科学技術論文動詞集において、「묘사하다」を掲載しました

  • 2022/02/28

    透過電子顕微鏡基本用語集において、「crama-s・cro-nich 解析」(図の追加 など) を掲載しました

  • 2021/02/14

    透過電子顕微鏡基本用語集において、「偏析」を改訂し、「双晶境界における角度差の精密測定」、「小傾角粒界における角度差の精密測定」の追加 (図の追加など) を実施しま시타

  • 2021/07/19

    走査電子顕微鏡基本用語集で、分析関係の用語

  • 2022/05/31

    透過電子顕微鏡基本用語集に「転位のバーガースベクトルの決定」を追加し、「devaiワラー因子」の改定 (式や図の改定)

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