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전자현미경 일반

창립 이래 세계 과학의 발전과 사회 발전에 기여한 JEOL의 DNA.

전자현미경은 광학현미경으로는 관찰할 수 없는 미세구조를 명확하게 관찰할 수 있습니다. 또한 요소의 종류와 내용까지 분석할 수 있습니다.
JEOL은 전자현미경 개발을 시작으로 투과전자현미경(TEM), 주사전자현미경(SEM) 등 전자빔, 이온빔, X선 기술을 이용한 다양한 기기를 제공하고 있다.

제품에 대한 최신 정보

제품

투과전자현미경(TEM)

투과전자현미경(TEM)

원자 수준의 고해상도 관찰 및 구조 분석, 마이크로에서 나노 영역의 원소 분석이 가능합니다.

주사 전자 현미경 (SEM)

주사 전자 현미경 (SEM)

주로 표면 구조 관찰 및 원소 분석이 가능합니다.

이온빔 응용장비

이온빔 응용장비

정확한 시편 준비가 가능합니다. 모델과 부착물에 따라 동시 관찰과 분석이 가능하기도 합니다.

미세 영역 및 표면 분석용 기기

미세 영역 및 표면 분석용 기기

마이크로에서 나노 영역 또는 물질 표면에 포함된 원소의 상세한 상태를 분석합니다.

X선 형광 분광계

X선 형광 분광계

고체, 분말, 액체, 박막 등 다양한 시료에 포함된 원소의 종류와 함량을 기준시료 없이 분석할 수 있습니다.

計測機器

기타

전자 회절계가 도입되었습니다.

분야별 솔루션

반도체

반도체

전기/전자부품

전기/전자부품

배터리

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에너지

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자동차

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강철

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금속

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화학

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플라스틱/폴리머

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유리 / 도자기

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실험실 / 병리학

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생물학 / 생명 과학

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의학

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식품/식물

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환경

환경

국방/항공우주

국방/항공우주

기타

기타

최신 세미나 / 웨비나

최신 기술 정보를 분석 사례를 활용한 세미나 형식으로 공유합니다.

과거 영화(웹 세미나 목록)

과거에 개최된 웨비나(웹 세미나)의 녹음 라이브러리를 이용할 수 있습니다.

요코구시

"YOKOGUSHI"를 키워드로 기능간 평가 흐름을 제안하는 것을 목표로 합니다.

과학 기초

JEOL 주요 제품의 원리와 적용을 개략도, 그림 및 다양한 데이터 세트를 사용하여 이해하기 쉽게 설명합니다.

전자현미경 용어집

여기에 기본 용어가 요약되어 있습니다.

놀라운 현미경의 세계

SEM/TEM으로 관찰한 선명한 이미지를 소개합니다.

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JEOL은 고객이 안심하고 제품을 사용할 수 있도록 다양한 지원 서비스를 제공합니다.
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