JSX-1000S는 터치 스크린 조작을 사용하여 빠르고 쉬운 원소 분석을 제공하는 X선 형광 분광기입니다. 기존의 정성적, 정량적 분석(FP법, 검량선법)과 RoHS 요소 스크리닝 기능을 탑재하고 있습니다. 다양한 하드웨어 및 소프트웨어 옵션을 모두 사용할 수 있으므로 광범위한 분석 요구 사항을 충족하도록 사용자 정의할 수 있습니다.
특징
움직이는 JSX-1000S
위 상자에서 "다시보기" 버튼을 클릭하면 영화가 시작됩니다(4분 동안).
간단한 조작
샘플을 설정하고 화면을 터치하기만 하면 됩니다. 그만큼 조작이 쉽습니다. 화면을 한 번만 더 터치하면 분석 결과와 스펙트럼 표시 간에 전환할 수 있습니다. 태블릿 PC나 스마트폰처럼 조작이 간편합니다. (키보드와 마우스를 이용한 조작도 지원합니다.)
설정 및 터치 간단한 조작
간단하고 직관적인 조작 GUI
높은 감도 및 높은 처리량
JEOL의 자체 SDD(실리콘 드리프트 검출기)와 새로 개발된 광학 시스템과 전체 에너지 범위를 처리하도록 설계된 필터를 결합하여 고감도 분석이 가능합니다.
샘플 챔버 진공 장치(옵션)는 더 가벼운 요소에 대한 감지 감도를 더욱 높입니다.
전체 에너지 범위에 대한 민감한 분석
최대 9종의 필터와 샘플 챔버 진공 장치를 사용하여 전체 에너지 범위에서 고감도 분석을 수행할 수 있습니다.
Cl, Cu, Mo 및 Sb는 옵션입니다.
예: 미량 원소 검출(10ppm 이하)
솔루션 제공
솔루션 기반 응용 프로그램을 사용하면 미리 기록된 레시피에 따라 원하는 분석을 자동으로 실행할 수 있습니다. 자동화된 분석 및 결과 표시를 위해 솔루션 응용 프로그램 목록에서 원하는 솔루션 아이콘을 선택하기만 하면 됩니다. 솔루션 애플리케이션은 광범위한 분야에서 단순화된 분석을 제공합니다.
새로운 Smart FP(Fundamental Parameter) 방법은 표준 시료를 준비할 필요 없이 고정밀 정량 결과를 얻을 수 있으며 두께 및 잔류 성분 균형에 대한 자동 보정이 포함됩니다.
(잔량 보정 및 두께 보정 기능은 유기 시료에만 적용됩니다.)
두께 | 수정 | Cr | Zn | Cd | Pb | 자동 저울 |
---|---|---|---|---|---|---|
0.5mm | 아니 | 0.008 | 0.037 | 0.001 | 0.002 | 99.76 |
3.8mm | 0.012 | 0.109 | 0.004 | 0.006 | 99.64 | |
0.5mm | 가능 | 0.011 | 0.137 | 0.015 | 0.010 | 99.54 |
3.8mm | 0.011 | 0.134 | 0.016 | 0.011 | 99.55 | |
표준값 | 0.010 | 0.125 | 0.014 | 0.010 |
제품 사양
분석 요소 범위 | Mg에서 U로 |
---|---|
F에서 U로(옵션) | |
엑스레이 발생기 | 5 ~ 50kV, 1mA |
목표 | Rh |
9차 필터 : XNUMX종, 자동교환 | 표준: OPEN, ND, Cr, Pb, Cd |
옵션: Cl, Cu, Mo, Sb | |
콜리메이터 : 3종, 자동교환 | 0.9mm, 2mm, 9mm |
탐지기 | 실리콘 드리프트 검출기(SDD) |
시편 챔버 크기 | 300mm (D) × 80mm (H) |
시편 챔버 분위기 | AIR / VAC(옵션) |
챔버 관찰 메커니즘 | 컬러 카메라 |
운영 컴퓨터 | 터치 패널이 있는 Windows ® 데스크탑 PC |
분석 소프트웨어(표준) | 정성 분석(자동, KLM 마커, 합계 피크 표시, 스펙트럼 검색)
정량분석(Bulk FP법, Calibration curve법) RoHS 분석 솔루션 (Cd, Pb,Cr, Br, Hg) 단순화된 분석 솔루션 보고서 작성 소프트웨어 |
일일 점검용 소프트웨어(표준) | 관구 노후화, 에너지 체크, 강도 체크 |
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주요 옵션
샘플 챔버 진공 장치
자동 샘플 교환기
필터 세트
FILTER FP 방법 분석 소프트웨어
박막 FP 방법 분석 소프트웨어
합계 피크 제거 소프트웨어
Ni 도금 스크리닝 용액
Sn 도금 스크리닝 솔루션
할로겐 스크리닝 솔루션
관련 정보
헬륨 프리 경원소 분석은 액체에서 이루어집니다! 액체 시료 분석용 저진공 캡슐
어플리케이션
애플리케이션 JSX-1000S
FP법에 의한 플라스틱 내 무기 원소의 정량 및 정성 분석
X-ray 분석에 의한 Resin 표면의 이물질 시험/분석