새로운 전자 프로브 마이크로 분석기 JXA-iHP200F 및 JXA-iSP100 출시 - 통합 EPMA의 진화 -
출시일: 2019/11/13
JEOL Ltd.(사장 겸 COO Izumi Oi)는 새로운 쇼트키 전계 방출 전자 프로브 마이크로분석기 JXA-iHP200F와 새로운 텅스텐/랩을 출시한다고 발표했습니다.6 Electron Probe Microanalyzer JXA-iSP100, 2019년 XNUMX월 출시 예정
제품 개발 배경
EPMA(Electron Probe Microanalyzers)는 철강, 자동차, 전자 부품, 배터리 소재 등 다양한 산업 분야에서 연구 개발 및 품질 관리를 위한 도구로 사용됩니다. 또한 학문 분야에서 EPMA는 광물 에너지 연구뿐만 아니라 새로운 재료 연구를 다루는 지구 및 행성 과학 및 재료 과학 분야에서 활용되어 다양한 첨단 연구에 기여하고 있습니다. EPMA 응용 프로그램이 증가함에 따라 EPMA 사용자는 정의된 관심 영역에서 미량 원소 분석을 위한 고품질 성능을 유지하면서 높은 조작성을 갖춘 간단하고 빠른 분석이 필요합니다.
이러한 요구 사항을 충족하기 위해 JXA-iHP200F 및 JXA-iSP100을 사용하면 관찰(광학 및 SEM 이미지)에서 파장 분산 X선 분광법(WDS), 에너지 분산 X선 분광법(EDS), 음극선 발광( CL) 및 기타 기술.
주요 기능
간단하고 빠른 작동을 위한 통합 EPMA- 높은 처리량
검체 삽입부터 분석영역 결정까지 누구나 원활하게 수행 가능 높은 정확도로. - 매우 정확한 분석
통합 EPMA 시스템을 통해 누구나 더 높은 정확도와 정밀도, 더 빠른 수준의 기능으로 더 빠르고 쉽게 분석 데이터를 얻을 수 있습니다. - 쉬운 유지 보수
필요한 경우에만 유지 보수가 자동으로 수행되므로 누구나 EPMA 시스템을 최적의 상태로 유지할 수 있습니다.
참고: EPMA는 "Electron Probe Microanalyzer"의 약자입니다.
연간 단위 판매 목표
70 단위/년