JSPM-5400은 다양한 측정 모드와 함께 제공됩니다.
각 측정 모드에 대한 옵션 추가로 측정 기능이 확장됩니다.
특징
새로운 비접촉 AFM
소형, 신속, 안전
안전 고속 접근
손상 없는 스캔 제어
간단한 포지셔닝
관찰과정까지의 시간단축으로 안전운전
끝
비접촉식 원자현미경을 이용한 손상 없는 고해상도 이미징
환경 제어
고진공에서 가열/냉각된 시료의 안정적인 관찰
다양한 측정 모드
JSPM-5400은 다양한 측정 모드와 함께 제공됩니다. 각 측정 모드에 대한 옵션 추가로 측정 기능이 확장됩니다.
안전 고속 접근
XNUMX단계 접근(고속 및 미세 접근: 특허 출원)을 사용하여 캔틸레버가 손상 없이 시료에 빠르게 접근할 수 있습니다.
충돌 없이 고속 접근이 가능하기 때문에 이 방법은 빛을 많이 산란시키는 시료와 표면과 캔틸레버 사이의 거리를 제공하기 어려운 투명한 시료에 효과적입니다.
안전 고속 접근은 시료에서 멀리 떨어진 장거리 중력으로 작용하는 약한 중력을 감지합니다. 캔틸레버는 약한 중력이 감지될 때까지 고속(최대 50m/초)으로 시료에 접근할 수 있습니다. 고속접근이 끝나면 캔틸레버와 시료 사이의 거리를 조절하면서 미세접근을 한다. 샘플과 캔틸레버.
빠르고 간단한 포지셔닝
JSPM-5400에 표준 구성으로 포함된 스킵 스캔 기능은 이미지의 픽셀 수를 줄일 수 있으므로 측정 시간을 단축합니다.
손상 없는 스캔 제어
무손상 스캔 제어는 표준 표면(상단 이미지의 A 지점)에 대해 제한된 영역(상단 이미지의 L) 내에서 프로브를 작동하는 데 사용됩니다. 단면의 가장자리를 관찰할 때 캔틸레버의 정점과 가장자리 사이의 충돌 없이 프로브를 안전하게 스캔할 수 있습니다.
JSPM-5400은 기준 높이를 자동으로 갱신하는 기능이 내장되어 있어 오목한 부분이 심한 시료라도 자동으로 오목한 부분의 위쪽 방향으로 기준점을 설정할 수 있습니다(특허출원).
이 기능을 사용하면 지형 형태를 알 수 없는 샘플도 손상 없이 측정할 수 있습니다.
무손상 스캔 제어는 가장자리 근처의 측정에 매우 효과적이므로 이 기능은 단면 준비 장치인 CP(Cross Section Polisher®)로 생성된 단면을 이미징하는 데 유용합니다. (하단의 그림을 참조하십시오.)
프로브 자동 추적
이 기능은 가열/냉각 관찰 시 샘플의 열팽창 및 수축으로 인한 수직 드리프트를 자동으로 보정하여 프로브의 정점이 샘플 표면에 장시간 접촉하거나 이탈하는 것을 방지합니다. 온도 변화 하에서 연속 이미징(3페이지의 하단 이미지 참조)은 이 기능을 활용합니다.
(샘플을 가열 및 냉각하려면 추가 액세서리가 필요합니다.)
우수한 환경 제어
SPM 헤드의 구조를 대폭 개선하여 진공 품질을 높였습니다. 선택적 콜드 트랩 시스템을 사용하면 진공 압력이 10-6 Pa 정도에 도달합니다. 따라서 샘플에 대한 가스 흡착을 최소량으로 줄여 깨끗한 샘플 표면을 유지할 수 있습니다.
진공 외부에서도 진공에 놓인 SPM 검출 시스템을 위한 캔틸레버 및 광 검출기에 레이저 광의 광축을 정렬하는 것이 가능합니다.
진공 배기 시스템과 에어록 시료 교환 장치를 부착하여 진공을 유지하면서 시료를 교환할 수 있으며 시료 설정에서 관찰까지의 시간을 단축할 수 있습니다.
제품 사양
| 분해능 | 표면 내: 0.1 nm, 수직 방향: 0.01 nm
AFM: 원자 분해능(접촉 모드 운모) STM: 원자 분해능(HOPG 원자 이미지) |
|---|---|
| 측정모드(AFM) | NC 모드(주파수 감지)
지형 이미지, 주파수 편이 이미지, 소실 이미지 (옵션: SKPM, MFM, EFM ) AC 모드(진폭 감지) 지형 이미지, 위상 이미지, 진폭 이미지 (옵션: 점탄성 이미지, SKPM, MFM, EFM) 접촉 모드 지형 이미지, 힘 이미지, 접점 전류 이미지, FFM (옵션: 점탄성 이미지, LM-FFM, PFM, SCFM) 분광학 : 힘 곡선, 마찰력 곡선, IV, SV, IS, SPS 매핑 |
| 측정모드(STM) | 지형 이미지, 현재 이미지
(옵션: 미세 전류 감지) |
| 표준 스캐너를 사용한 스캔 범위 | XY: 0~20m(해상도: 16비트 3DAC, 21비트 상당)
Z: 0~3m(분해능: 22비트) 튜브 스캐너 사용 시(교환 가능) 픽셀 수: 최대 2048 2048 직사각형 스캔, 스킵 스캔, 프로브 자동 추적, 손상 없는 스캔 제어, 안전 고속 접근 |
| 표본의 크기 | 최대 50mm×50mm×5mm(T)
표준: 10mm×10mm×3mm(T) |
