고감도, 고분해능 액체질소 비함유 Si(Li) 반도체 검출기가 장착된 X-선 형광 분광계
특징
JSX-3100RII는 고감도, 고분해능, 액체 무질소 Si(Li) 검출기가 장착된 X선 형광 분석기(XRF)입니다.
JSX-3100RII는 측정을 위해 액체 질소를 제거하는 고유한 냉동기를 갖추고 있습니다.
JSX-3100RII는 X선 검출기의 재진공 시스템을 갖추고 있어 장기간 안정적인 작동이 가능합니다.
JSX-3100RII는 고감도 Si(Li) 검출기, 단거리 광학계 및 특수 필터를 장착하여 단시간에 미량 원소를 측정할 수 있습니다.
JSX-3100RII는 고해상도 SI(Li) 검출기를 탑재하여 Mg, Al, Si 등의 경원소 피크를 명확하게 분리할 수 있습니다.
FP법(fundamental parameter method)으로 표준물질 없이 정량분석 가능
JSX-3100RII는 직경 1mm 콜리메이터와 CCD 카메라를 기본으로 장착해 이물질 등 작은 시료를 관찰하고 분석할 수 있다.
JSX-3100RII는 sum-peak 표시 기능을 기본 탑재하여 사용자가 쉽게 정성 분석을 수행할 수 있습니다.
또한 옵션인 Sum-peak Removal Software를 사용하면 정량 분석의 정밀도를 높일 수 있습니다.
Thin Film FP법은 표준시료 없이 복합도금, 합금도금 등 다층박막 시료에서 각 층의 두께와 조성을 분석할 수 있습니다.
Thin Film FP 방식이 기본 탑재되어 있습니다.
제품 사양
| 감지 요소 범위 | 나 투 유 |
|---|---|
| 엑스레이 생성기 | 5~50kV 1mA 50W |
| 목표 | Rh |
| 필터 | XNUMX위치 자동 교환(열림 포함) |
| 시준기 | 1mmm/3mmm/7mmm |
| 탐지기 | 액체 질소가 없는 Si(Li) 반도체 검출기 |
| 액체 질소 | 필요하지 |
| 샘플 챔버 크기 | 직경 300mm x 150mm(높이) |
| 샘플 챔버의 분위기 | 공기(진공: 옵션) |
| 개인 컴퓨터 | 운영체제:Windows®7
액정 디스플레이 컬러 프린터 |
| 소프트웨어 | RoHS 분석 : 플라스틱 5원소 분석, 금속재료 5원소 분석, 분석결과 보고 소프트웨어
일반 분석: 벌크 FP법, 박막 FP법 검량선법 |
| 유지 보수 소프트웨어 | 기기 교정 소프트웨어, JSX 스타터 |
| 제공된 샘플 | 에너지보정시료 , 기기점검시료 , 광량표준시료 |
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