JMS-T2000GC 고질량분해능이 분석 결과에 미치는 영향 - msRepeatFinder를 이용한 KMD Plot 비교 - [GC-TOFMS Application]

개요

최근 JEOL은 JEOL "AccuTOF™ GC" 시리즈의 2000세대 GC-HRTOFMS인 JMS-T6GC "AccuTOF™ GC-Alpha"의 출시를 발표했습니다(그림 1). GC-Alpha는 10,000배 더 높은 질량 분해능을 달성합니다(30,000→XNUMX @ m / z 614) 및 이전 모델보다 3배 더 높은 질량 정확도(1ppm→XNUMXppm, EI 표준 이온 소스). 이 작업에서 원유(매우 복잡한 혼합물)의 직접 프로브 전계 탈착(FD)을 사용하여 개선된 분해능의 효과를 모니터링했습니다. 또한 JEOL msRepeatFinder 소프트웨어를 사용하여 Kendrick 질량 결함(KMD) 플롯을 사용하여 원유 데이터를 조사하여 향상된 질량 분해능이 분석 결과에 미치는 영향을 보다 명확하게 시각화했습니다.

Fig.1 JEOL GC/HR-TOFMS 시스템: JMS-T2000GC

실험

멕시코만 원유(SRM2779, NIST)를 샘플로 사용했다. EI/FI/FD 조합 이온 소스가 장착된 이전 세대 JMS-T200GC 및 차세대 JMS-T2000GC가 샘플 분석에 사용되었습니다. 표 1은 이러한 시스템의 측정 조건을 보여줍니다. 이후 msRepeatFinder를 사용하여 각 시스템의 데이터를 분석하여 향상된 질량 분해능이 분석 결과에 미치는 영향을 확인했습니다.

결과

그림 2는 두 기기에서 얻은 FD 질량 스펙트럼을 보여줍니다. 전체 스펙트럼 패턴은 매우 유사했지만 피크를 면밀히 조사한 결과 각 기기에 대해 피크 분리가 크게 다른 것으로 나타났습니다. JMS-T2000GC(그림 2(a))는 m/z 600 이상의 높은 질량 범위에서도 각 탄화수소 성분의 명확한 질량 분리를 보여 주었습니다. 이는 새로운 시스템이 더 높은 질량 분해능을 가진 결과입니다. 대조적으로, 이전 모델의 질량 분리는 특히 높은 질량 범위에서 서로의 질량 피크를 적절하게 해결하기에는 불충분했습니다.

Fig.2 원유에 대한 FD 질량 스펙트럼: (a) JMS-T2000GC 데이터, (b) 이전 모델 데이터

다음으로 msRepeatFinder를 사용하여 KMD 플롯으로 각 FD 질량 스펙트럼을 시각화했습니다(그림 3). JMS-T2000GC KMD 플롯(그림 3(a))은 전체 질량 범위(위의 구성 요소 포함)에 걸쳐 구성 요소 제품군을 명확하게 보여줍니다. m / z 600). 이러한 결과는 그림 2와 같이 개선된 피크 분리의 직접적인 결과입니다. 반면에 이전 모델의 KMD 플롯은 위의 피크에 대해 매우 나쁜 결과를 보였습니다. m / z 600, 불충분한 질량 분리로 인해 많은 구성 요소가 사라짐. 기본적으로 미확인 피크는 여러 성분이 있음에도 불구하고 단일 성분으로 취급되어 높은 질량 범위에서 KMD Plot 정보가 손실됩니다.

Fig.3 FD 질량 스펙트럼의 KMD 플롯: (a) JMS-T2000GC 데이터, (b) 이전 모델 데이터

결론

위의 결과는 JMS-T2000GC가 달성한 높은 분해능이 원유와 같은 복잡한 물질의 직접 질량 측정(FD 프로브)에 특히 효과적임을 확인했습니다. 또한 KMD 플롯은 T2000GC 높은 질량 분해능이 개선된 질량 분리의 결과로 검출된 성분의 수를 극적으로 증가시켰음을 분명히 보여주었습니다.