닫기

지역 사이트 선택

닫기

고해상도 X선 영상의 조건 ​​분석

LaB6와 전계 방출(FE) 전자원을 사용하는 전자 탐침 마이크로 분석기(EPMA)는 기존 W 필라멘트보다 높은 공간 분해능을 얻을 수 있습니다. 일반적으로 전자원이 작을수록 이미지의 공간 분해능이 높아질 것으로 예상됩니다. 그러나 공간 분해능은 분석 조건의 영향을 받기도 하며 일부 조건에서는 EPMA가 잠재력을 최대한 발휘할 수 없습니다.
추가 정보는 PDF 파일을 참조하십시오.
클릭하면 다른 창이 열립니다.

PDF 228.9KB

분야별 솔루션

닫기
주의

귀하는 의료 전문가 또는 의료에 종사하는 직원입니까?

아니

이 페이지는 일반 대중에게 제품에 대한 정보를 제공하기 위한 것이 아닙니다.

과학 기초

메커니즘에 대한 쉬운 설명과
JEOL 제품의 응용

Contacts

JEOL은 고객이 안심하고 제품을 사용할 수 있도록 다양한 지원 서비스를 제공합니다.
Please feel free to contact us.