XPS에서 간단하고 쉬운 화학 결합 분석

X선 광전자 분광법(XPS)은 금속, 고분자 및 반도체 재료 표면의 원소 분석 및 화학적 상태 분석에 널리 사용됩니다. XPS는 여기 소스로 X선을 사용하기 때문에 시료에 전하 축적이 없고 손상이 최소화됩니다. 이것은 다른 표면 분석기에 비해 장점 중 하나입니다. XPS의 성능을 더욱 향상시키기 위해 새로운 컴퓨터 시스템이 개발되었습니다. 이 새로운 시스템의 개요는 다음과 같습니다.