JXA-8530F 전계 방출 전자 프로브 마이크로 분석기
PC로 제어되는 WD/ED 결합 시스템으로 새로운 초미세 분석의 문을 열다
JEOL은 전계 방출(FE) 전자총을 특징으로 하는 EPMA로 표면 분석에 혁신을 일으켰으며 이제 새롭게 업그레이드된 FE-EPMA를 선보이게 된 것을 자랑스럽게 생각합니다. JXA-8530F는 FE 전자총, EOS 및 진공 시스템을 포함하여 JXA-8500F의 강력한 하드웨어를 유지하면서 데이터 수집 및 분석을 위해 PC Windows에서 작동하여 초미세 영역 분석을 달성합니다. 사용자 친화적인 PC 기반 작동으로 최고 배율에서 빠르고 쉽게 분석할 수 있습니다.
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