아르곤 빔 단면

재료 단면 검사는 종종 결정 구조, 층 또는 필름 두께, 공극 또는 균열의 존재, 성능 및 신뢰성에 영향을 미칠 수 있는 기타 속성에 대한 필수 정보를 제공합니다. 주사 전자 현미경(SEM) 관찰, 특히 금속 조직 샘플 준비를 위해 시편 단면을 준비하는 데 많은 기계적 방법을 사용할 수 있습니다. 그러나 기계적 연마에는 몇 가지 문제가 있습니다.