JEM-F200은 새로운 전계방출형 투과전자현미경으로 보다 높은 공간해상도와 분석성능, 다용도 운용을 위한 사용하기 쉬운 새로운 운영시스템, 스마트한 외관, 다양한 친환경 에너지 절약 시스템 등이 특징이다.
특징
JEM-F200의 움직임(유튜브)
위 상자에서 "다시보기" 버튼을 클릭하면 영화가 시작됩니다(4분 동안).
스마트 한 디자인
JEM-F200은 새롭고 멋진 외관을 가지고 있습니다.
분석 전자 현미경을 위해 특별히 설계된 새롭고 직관적인 사용자 인터페이스를 통합합니다.
또한 수년간 축적된 JEOL의 엔지니어링 전문성을 반영하는 뛰어난 기계적 및 전기적 안정성을 특징으로 합니다.
쿼드 렌즈 콘덴서 시스템
오늘날의 전자현미경은 명시야/암시야 TEM에서 다양한 검출기를 사용하는 STEM까지 광범위한 이미징 기술을 지원해야 합니다.
JEM-F200은 새로운 4단 프로브 형성 광학계인 Quad-Lens Condenser System을 탑재하여 전자빔의 강도와 수렴각을 독립적으로 제어하여 다양한 연구 요구사항에 대응할 수 있습니다.
고급 스캔 시스템
JEM-F200은 새로운 스캐닝 시스템인 Advanced Scan System을 통합하여 이미지 프로브 형성 시스템에서 전자 빔을 스캐닝할 수 있습니다. 이것은 광역 STEM-EELS를 달성합니다.
피코 스테이지 드라이브
JEM-F200은 피에조 드라이브 없이 200피코미터 단위로 스테이지를 구동할 수 있는 피코 스테이지 드라이브를 사용하며 전체 샘플 그리드에서 원자차수 이미지까지 넓은 다이나믹 레인지로 시야 영역을 이동할 수 있다.
SPECPORTER (자동 홀더 로딩/언로딩 장치)
표본 홀더의 로딩/언로딩은 특히 초보자에게 인적 오류를 유발하는 것으로 간주되었습니다.
JEM-F200은 새로운 장치인 SPECPORTER를 통합하여 시편 홀더의 로딩 및 언로딩을 용이하게 합니다.
주어진 위치에 시편 홀더를 놓고 클릭 한 번으로 SPECPORTER를 활성화하면 홀더를 안전하게 싣고 내릴 수 있습니다.
향상된 콜드 FEG
JEM-F200은 옵션으로 제공되는 냉전계 방출 전자총을 지원합니다.
높은 안정성, 고휘도, 고에너지 분해능을 보장하는 Cold Field Emission 전자총은 EELS에 의한 화학결합 분석이 가능하고, 고휘도 전자빔으로 분석 속도가 빨라지며, 전자원 에너지 확산으로 인한 색수차를 최소화합니다. 고해상도 이미징을 가능하게 합니다.
듀얼 SDD
JEM-F200은 선택적 고감도 대형 실리콘 드리프트 검출기(SDD)의 두 장치를 동시에 지원합니다.
향상된 감도를 제공하는 SDD는 시료 손상을 최소화하면서 빠른 EDS 분석을 가능하게 합니다.
친절한 환경
JEM-F200은 모든 투과형 전자현미경 최초로 에너지 절약 시스템인 ECO 모드를 표준으로 통합합니다. ECO 모드는 현미경이 작동하지 않을 때 최소한의 에너지 소비율로 현미경의 최적 상태를 유지하도록 설계되었습니다.
ECO 모드는 에너지 소비율을 정상 작동 모드의 약 1/5로 줄일 수 있습니다.
스케줄링 기능은 사용자가 지정한 언제든지 작업 조건을 복원할 수 있습니다.
제품 사양
| 스펙 | 초고해상도 | 고해상도 |
|---|---|---|
| 분해능 | ||
| TEM(포인트 분해능) | 0.19nm | 0.23 nm의 |
| STEM-HAADF 모드 | 0.14nm(Cold FEG 포함)
0.16nm(쇼트키 FEG 사용) |
0.16nm(콜드 FEG 포함)
0.16nm(쇼트키 FEG 사용) |
| 가속 전압 | 200, 80kV | |
| 주요 설치 옵션 | EDS
EELS 디지털 카메라 TEM/STEM 단층 촬영 시스템 |
|
카탈로그 다운로드
어플리케이션
애플리케이션 JEM-F200
갤러리 (Gallery)
재료: Si 110 고해상도 줄기
샘플: Si 110
현미경: JEM-F200 HR 폴피스(CFEG 포함)
조건: 200kV, STEM
STEM HAADF 배율 x12M
2048x2048 픽셀 38usec/픽셀
디지스캔으로
자료: 단청 층 MoS2 장
샘플: 모노 레이어 MoS2 시트
현미경: JEM-F200 HR 폴피스(CFEG 포함)
조건: 200kV, STEM
생명 과학: 80kV에서 ABS 폴리머의 TEM 이미지
샘플: ABS 폴리머
현미경: JEM-F200 HR 폴피스(CFEG 포함)
조건: 80kV, TEM
샘플 준비: 마이크로톰
재료: 향상된 콜드 FEG
작은 에너지 확산으로 높은 밝기
EELS에 의한 탄소 동소체의 화학 결합 상태 분석
낮은 가속 전압 / 80kV
견본
a) 단일벽 탄소나노튜브
b) 흑연/고표면적 흑연
다) 다이아몬드
d) 비정질 탄소
샘플: 탄소 동소체
현미경: JEM-F200 HR 폴피스(CFEG 포함)
조건: 80kV, TEM 이미지, EELS QuantumER
자료: STO/이중 SDD
샘플: Sr TiO
현미경: JEM-F200 HR 폴피스(CFEG 포함)
조건: 200kV, STEM, Dual SDD(100mm2x2) 512x512
관련 상품
SightSKY 카메라 (EM-04500SKY) 고감도, 저노이즈 파이버 커플링 CMOS 카메라
고감도, 저노이즈 19M 픽셀 CMOS 센서는 낮은 전자 선량에서도 관찰할 수 있는 미세한 표본 세부 사항으로 보다 선명한 이미징을 가능하게 합니다.
글로벌 셔터 및 높은 프레임 속도(58fps/전체 픽셀 모드)를 통해 동적 관찰 중에 아티팩트가 적은 이미지 시리즈 획득이 가능합니다.
"SightX" 카메라 시스템 제어 소프트웨어는 사용자 친화적인 작동을 제공합니다.
