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【단종】JSM-IT700HR
InTouchScope™ 스캐닝
전자 현미경

DISCONTINUED

JSM-IT700HR InTouchScope™ 주사 전자 현미경

SEM - 일상적인 실험실 작업에 필수 JSM-IT700HR로 쉽게 만들 수 있습니다.

이 제품은 더 이상 판매되지 않습니다.

선호하는 제품에 대한 최신 정보를 알고 싶거나 대체 제품에 대해 자세히 알아보려면 아래 링크를 클릭하세요. 계속해서 저희 제품을 사용하시기를 바랍니다.

기능

나노 스케일 재료는 현재의 기술 혁신을 주도하고 있으며 새롭고 혁신적인 SEM인 JSM-IT700HR에 의해 관찰 및 분석이 촉진됩니다.
1nm의 공간 분해능과 300nA의 최대 프로브 전류를 갖춘 새로운 전자총은 매우 사용자 친화적인 소프트웨어 인터페이스와 결합되어 SEM에서 관찰 및 분석을 크게 단순화합니다.
컴팩트한 기기 디자인은 또한 EDS 통합뿐만 아니라 여러 액세서리 포트가 있는 대형 시편 챔버를 특징으로 합니다.
JSM-IT700HR 고급 SEM, 강력하고 사용하기 쉽습니다.

개요

♦위의 상자에서 "재생" 버튼을 클릭하면 동영상이 시작됩니다(약 1.5분) ♦

Zeromag 및 자동 기능

광학 이미지 확대, SEM 이미지로의 원활한 전환

♦위의 상자에서 "재생" 버튼을 클릭하면 동영상이 시작됩니다(약 1.5분) ♦

Zeromag는 홀더 그래픽 또는 광학 이미지를 연결하도록 설계되었습니다. SEM 이미지와 함께
Zeromag를 사용하면 필드 검색이 쉽습니다.

  • 광학 이미지를 표시하려면 무대 내비게이션 시스템(SNS)이 필요합니다.

통합 EDS 및 라이브 분석

관찰과 분석의 통합

♦위의 상자에서 "재생" 버튼을 클릭하면 동영상이 시작됩니다(약 2분) ♦

관찰에서 분석으로의 원활한 전환을 위해 SEM 관찰 화면에서 직접 EDS 분석. 또한 Live Analysis는 특성 X선 스펙트럼의 실시간 모니터링을 제공합니다.

스마일뷰™ 랩

빠르고 유연한 보고서 생성

♦위의 상자에서 "재생" 버튼을 클릭하면 동영상이 시작됩니다(약 1분) ♦

SMILE VIEW™ Lab은 광학 이미지, SEM 이미지 및 EDS 분석 결과를 연결하는 JEOL 원본 데이터 관리 도구입니다.
클릭 한 번으로 측정 후 보고서를 쉽게 생성할 수 있습니다.
소프트웨어의 오프라인 버전*1 SEM을 확보하고 생산성을 향상시키는 데 사용할 수 있습니다.

  • 오프라인 데이터 분석 소프트웨어(옵션)가 필요합니다.

  • Microsoft®Office를 설치해야 합니다.

신호의 깊이 표시

♦위의 상자에서 "재생" 버튼을 클릭하면 동영상이 시작됩니다(약 1분)♦

신호 생성 깊이를 표시하는 새로운 기능이 내장되어 있습니다. 시편의 분석 깊이를 관찰하는 것은 생성된 요소 결과를 이해하는 데 매우 효과적입니다.

자동 빔 정렬(ABA)

♦위의 상자에서 "재생" 버튼을 클릭하면 동영상이 시작됩니다(약 1.5분) ♦

이 기능은 전자빔의 광축을 자동으로 조정합니다.

몽타주 기능을 통한 대면적 관찰 및 분석

몽타주 결과: 6×6 (왼쪽: 후방 산란 전자 이미지 오른쪽: Cu 원소 맵)
표본: 황동 나사의 평면 밀링 섹션, 가속 전압: 20kV, 저진공 모드(20Pa), 촬영 영역: 6.4mm × 4.8mm

  • 기계적 연마 후 IB-19530CP로 플랫 밀링 가공을 수행했습니다.

 

몽타주는 넓은 영역의 모든 이미지를 하나의 고화질 이미지로 연결하는 기능입니다.
이 기능은 넓은 영역에 대한 자세한 정보를 얻는 데 매우 유용합니다.

카탈로그 다운로드

어플리케이션

애플리케이션 JSM-IT700HR

JSM-IT700HR을 통한 미시적 세계 확장

나노 물질

탄소 나노 튜브

가속 전압: 2kV, 신호: XNUMX차 전자,
배율: ×100,000
낮은 가속 전압에서 관찰하면 표면 구조가 명확하게 드러납니다.

탄소에 촉매 Pt

가속 전압: 10kV, 신호: 100,000차 전자(좌), 후방 산란 전자(우), 배율: ×XNUMX

전자 제품

세라믹 콘덴서의 파단면

가속 전압: 5kV, 신호: 후방 산란 전자,
배율: ×1,000(왼쪽) ×10,000(오른쪽)

반도체 SRAM의 CP 밀링 섹션

가속 전압: 5kV, 신호: 후방 산란 전자, 배율: ×60,000(좌우)

CP는 넓은 Ar 이온빔과 차폐판을 이용하여 시편의 단면을 준비하는 기구입니다. 최근 몇 년 동안 CP는 금속, 세라믹, 플라스틱 및 기타 재료의 단면을 준비하는 데 널리 사용되었습니다.

금속

대면적 몽타주 분석

스테인리스의 파단면

가속 전압: 15kV, 신호: XNUMX차 전자,
배율: ×500, 몽타주 결과: 13×6
파단면의 전체 면적을 관찰함으로써 파단 메카니즘에 대한 상세한 분석이 가능하다. 이 시편에서는 줄무늬 패턴 및 딤플 미세 공극과 같은 전형적인 피로 파괴가 관찰됩니다.

원소 분석: EDS 맵

정밀 절단 블레이드의 CP 밀링 섹션

가속 전압: 15kV, 신호: 후방 산란 전자(좌) EDS 맵(우), 배율: ×3,000
오버레이 맵을 사용하여 정밀 절단 블레이드에서 중금속 요소의 분포를 명확하게 합니다.

고배율 EBSD 분석

길이 방향을 따라 스테인리스 와이어의 CP 밀링 섹션

이미지 품질 맵(좌), 위상 맵 이미지(우)

EBSD 지도 이미지
(방향: 방향 3)

가속 전압: 10kV, 프로브 전류: 5nA, 배율: ×10,000

부드러운 소재

고무안의 카본 블랙

가속 전압: 15kV
신호: 이차 전자
배율: ×20,000

플라스틱 장갑

가속 전압: 5kV,
신호: 저진공 후방 산란 전자
배율: ×30,000

닭고기 달걀 껍질에 막

가속 전압: 5kV,
신호: 저진공 XNUMX차 전자
배율: ×500

저진공 모드

저진공 모드를 사용하면 처리 없이 비전도성 물질을 관찰할 수 있습니다. 대물 렌즈에서 진공을 제거하면 저진공 모드에서 이미지 품질이 향상됩니다.

음식

아이스크림

가속 전압: 7kV, 신호: 저진공 후방 산란 전자, 배율: ×300(왼쪽) ×30,000(오른쪽)

닭고기의 지방구와 근육 섬유

가속 전압: 10kV
신호: 저진공 후방 산란 전자
배율: ×300

LV 크라이오 홀더*1

LV cryo-holder는 시료를 수분 손실 없이 동결 상태로 유지합니다.
음식과 같은 함수 표본을 관찰할 수 있습니다. 얼음의 크기와 근섬유의 직경을 이해하여 질감을 시각화할 수 있습니다.
*1 옵션

생물학

대장균 및 T4 파지

가속 전압: 2.5kV
신호: 이차 전자
배율: ×25,000

가속 전압: 2.5kV
신호: 이차 전자
배율: ×80,000

마우스 신장의 미토콘드리아

가속 전압: 2.5kV
신호: XNUMX차 전자.
배율: ×50,000

JFD-320 동결건조기*2

표면장력의 영향을 최소화한 동결건조장치로 함수시료 건조에 적합합니다.
E. coli와 T4 파지의 표본 준비: Glutaraldehyde와 OsO4 처리 후 임계점 건조.
마우스 미토콘드리아의 표본 준비: OsO4 침용 처리 후 동결 건조.
* 2 옵션

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